English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(467)
Новости Anritsu(101)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(74)
Новости Keysight Technologies(538)
Новости Metrel(11)
Новости National Instruments(257)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(61)
Новости Rohde & Schwarz(425)
Новости Tektronix(190)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(80)
Новости Росстандарта(113)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Научно-практическая конференция «NI Academic Days 2017»

Научно-практическая конференция «NI Academic Days 2017»

20.02.2017

Компания National Instruments приглашает всех желающих участвовать с докладом о результатах прикладных исследований, перспективных разработках и о примерах успешного внедрения высоких технологий в промышленности, науке и образовании. По итогам будет издан сборник трудов конференции, содержащий все принятые доклады. Сборник будет размещен в РИНЦ.

Конференция пройдёт с 13 по 14 апреля 2017 г. в Москве.
Адрес: Московский институт электроники и математики (МИЭМ), Москва, ул. Таллинская, д.34.

Доклады можно прикреплять в форме регистрации до 28 февраля 2017 г.

В рамках секций участники смогут услышать более 150 докладов о применении
LabVIEW и технологий NI по следующим направлениям:

  • Радиотехника и беспроводные технологии
  • Автоматизация, встраиваемые системы, робототехника
  • Электроника и микроэлектроника
  • Стендовые испытания и многоканальные системы сбора данных
  • Системы управления реального времени и системы аппаратно-программного моделирования
  • Лабораторные практикумы и учебные стенды для школ и ВУЗов
  • Автоматизация научного эксперимента

Регистрационная форма Academic Days находится на сайте National Instruments по данной ссылке.

www.ni.com


О компании:  National Instruments

Возврат к списку


Материалы по теме:

Обзоры и анонсы выставок
Свежий номер
№ 4 Август 2018
КИПиС 2018 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала