English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(486)
Новости Anritsu(108)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(75)
Новости Keysight Technologies(563)
Новости Metrel(15)
Новости National Instruments(265)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(71)
Новости Rohde & Schwarz(463)
Новости Tektronix(194)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(87)
Новости Росстандарта(130)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

Компания National Instruments проводит технический семинар «Практические решения для разработки и тестирования изделий электроники и радиотехники»

Компания National Instruments проводит технический семинар «Практические решения для разработки и тестирования изделий электроники и радиотехники»

13.02.2017

Семинар National Instruments «Практические решения для разработки и тестирования изделий электроники и радиотехники» пройдёт 17 февраля 2017 г. в Челябинске, гостинице “Маркштадт”, ул. Карла Маркса, 131, Конференц - зал "Green Hall", 3 этаж, начало в 10:00.

Посещение семинара будет полезно специалистам предприятий, занимающихся электрическими измерениями, контролем качества продукции, разработкой радиоэлектроники и АСУТП, научными исследованиями.

В программе семинара:

  • Тестеры для входного контроля ЭКБ.
  • Платформа NI PXI для автоматизации измерений и тестирования
  • Системы параметрического тестирования и функционального контроля.
  • Презентация новых приборов 2016.
  • Программно-определяемые радиосистемы для НИОКР и ОЕМ.
  • Системы записи и воспроизведения сигналов, системы имитации обстановки
    и многие другие темы

Чтобы узнать подробнее о семинаре и зарегистрироваться, перейдите по данной ссылке.

Участие в семинаре бесплатное

www.ni.com


О компании:  National Instruments

Возврат к списку


Материалы по теме:

Обзоры и анонсы выставок
Свежий номер
№ 2 Апрель 2019
КИПиС 2019 № 2
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
24.05.1686
День рождения
24.05.1544
День рождения