English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(467)
Новости Anritsu(101)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(74)
Новости Keysight Technologies(537)
Новости Metrel(11)
Новости National Instruments(257)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(61)
Новости Rohde & Schwarz(425)
Новости Tektronix(190)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(80)
Новости Росстандарта(113)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Двухдневная международная конференция Agilent Technologies

Двухдневная международная конференция Agilent Technologies

20.09.2010

Компания Agilent Technologies 20 и 21 сентября 2010 г. проводит двухдневную пресс-конференцию, в Стамбуле (Турция). На пресс-конференцию приглашены 40 журналистов из Европы, в том числе 10 журналистов из России. Аналогичное мероприятие проходило 2 года назад в Риме (Италия), но на конференцию в 2008 году российских журналистов не приглашали.

На пресс-конференции будет представлена новая продукция компании, также будут представлены самые новые технические достижения в области контрольно-измерительного оборудования. Причем вся двухдневная работа конференции основана на возможности личного общения с руководством компании Agilent Technologies.

Среди участников пресс конференции:

Бенуа Нил (Benoit Neel) – Вице-президент и Генеральный менеджер по деятельности в европейском, средне-восточном и африканском регионах, Группа электронных измерений Agilent Technologies

Г-н Бенуа Нил (Benoit Neel) – Вице-президент и Генеральный менеджер по деятельности в европейском, средне-восточном и африканском регионах, Группа электронных измерений Agilent Technologies

Бор-Чун Гуи (Bor Chun, Gooi) – Старший менеджер департамента приборов общего назначения, Группа электронных измерений Agilent Technologies

Г-н Бор-Чун Гуи (Bor Chun, Gooi) – Старший менеджер департамента приборов общего назначения, Группа электронных измерений Agilent Technologies

Джей Александр (Jay Alexander) – Вице-президент и Генеральный менеджер подразделения цифровой осциллографии, Группа электронных измерений Agilent Technologies

Г-н Джей Александр (Jay Alexander) – Вице-президент и Генеральный менеджер подразделения цифровой осциллографии, Группа электронных измерений Agilent Technologies

Среди основных тем пресс-конференции следует выделить:

  • Высококачественные осциллографы: навстречу новым горизонтам
  • Почему и как применяются Х-параметры в тестировании РЧ элементов
  • Последние изменения в разработке и отладке встраиваемых цифровых систем
  • Новое поколение портативных тестеров
  • Основные направления в тестировании оборудования беспроводных сетей

Большинство представляемых новинок должны стать достоянием общественности после 28 сентября, поэтому, мы представим эти новинки на страницах и на сайте нашего журнала в октябре – ноябре 2010 года. 


О компании:  Keysight Technologies

Возврат к списку


Материалы по теме:

Свежий номер
№ 4 Август 2018
КИПиС 2018 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
15.08.1892
День рождения