English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(486)
Новости Anritsu(108)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(75)
Новости Keysight Technologies(563)
Новости Metrel(15)
Новости National Instruments(265)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(71)
Новости Rohde & Schwarz(463)
Новости Tektronix(194)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(87)
Новости Росстандарта(130)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Семинар Keysight Technologies «Основы тестирования высокоскоростных цифровых устройств»

Семинар Keysight Technologies «Основы тестирования высокоскоростных цифровых устройств»

27.06.2017

Компания Keysight Technologies приглашает принять участие в семинаре «Основы тестирования высокоскоростных цифровых устройств». Семинар пройдёт 13 июля в Санкт-Петербурге.

В программе семинара:

Основные тенденции и измерительные задачи при разработке высокоскоростных цифровых устройств: этапы, проблемы, решения

На всех этапах — от разработки исходной концепции до тестирования на соответствие требованиям стандартов — компания Keysight позволит вам наиболее эффективно выявлять проблемы, оптимизировать характеристики, успешно и вовремя выполнить поставленные задачи.

Данный семинар охватывает следующие темы:

  • Новые средства электромагнитного моделирования для обеспечения целостности сигналов и питания
  • Пробники для осциллографов реального времени, обеспечивающие более высокую точность измерений
  • Точное измерение показателей качества питания с использованием разработанных ранее и новых методов и средств осциллографии
  • Генераторы сигналов произвольной формы: выбор подходящего прибора для разработки цифровых оптических или электрических устройств

Тема 1: Проектирование и моделирование высокоскоростных цифровых устройств в САПР Keysight ADS с анализом целостности сигнала и питания

Обеспечьте целостность сигналов и питания до создания прототипа

В связи с непрерывным ростом скорости передачи данных все большую важность приобретает необходимость точного определения S-параметров для печатных плат на высоких частотах. САПР ADS 2016 предлагает множество новых технических решений, разработанных с целью повышения точности моделирования печатных плат, в том числе, два программных продукта для электромагнитного (ЭМ) моделирования, созданных специально для инженеров, занимающихся вопросами обеспечения целостности сигналов и питания.

Это решение включает 4 новых ЭМ-симулятора:

  • анализ падения постоянного напряжения в цепях питания;
  • анализ профиля импеданса цепей распределения питания в полосе частот;
  • анализ собственных резонансов цепей питания;
  • анализ целостности сигналов с учетом питания.

На этом семинаре вы сможете ознакомиться с инновационными комбинированными технологиями на основе ЭМ анализа SIPro и PIPro для проектирования высокоскоростных линий передачи данных на печатных платах. Новые решения SIPro и PIPro предоставляют единый с САПР ADS технологический процесс моделирования для прикладных задач обеспечения целостности сигналов и питания.

Тема 2: Исследование высокоскоростных сигналов на осциллографах реального времени с применением активных пробников

Используйте современные широкополосные системы пробников и выполняйте прецизионные измерения с их помощью

В данной части семинара продолжится рассмотрение темы векторного анализа сигналов. Программа векторного анализа сигналов 89600 VSA поддерживает анализ более 75 типов сигналов, в том числе сигналы стандартов LTE-Advanced и 802.11ac. Для заказчиков в оборонной и аэрокосмической отраслях предлагаются решения для анализа импульсных сигналов и непрерывных сигналов РЛС с частотной модуляцией (FMCW) наряду с гибкими возможностями для проведения анализа нестандартных или специализированных сигналов с помощью стандартных инструментов.

В данном докладе будут рассмотрены следующие вопросы:

  • Важные характеристики пробников
  • Несимметричные пробники
  • Дифференциальные пробники с впаиваемыми головками и наконечниками с нулевым усилием сочленения (ZIF)
  • Головки-браузеры для дифференциальных пробников
  • Смещение в дифференциальных пробниках
  • Параметры входного импеданса пробников

Тема 3: Анализ целостности питания на печатных платах при отладке прототипа

Измеряйте показатели качества и целостности питания при отладке цепей постоянного напряжения с помощью осциллографов и специальных пробников

Ввиду сложившейся в последнее время тенденции к неуклонному снижению напряжения питания устройств, источники питания постоянного тока становятся предметом все более пристального внимания. По мере того, как пользователи пытаются уменьшить потребляемую устройствами мощность, увеличить эффективность и минимизировать уровень обусловленных влиянием источника питания шумов в сигнале, допуски на отклонение напряжения питания становятся все жестче. В этом докладе рассматриваются инструменты и методы для проведения измерений показателей качества питания, таких как пульсации, шумы, выбросы, провалы, реакция на статическую/динамическую нагрузку, шумы в сигнале, обусловленные влиянием источника питания, а также джиттер сигнала.

Кроме того, в докладе обсуждается влияние шума осциллографа, шума пробника, коэффициента ослабления пробника, диапазона смещения, диапазона входного напряжения, способов подключения, а также измерение перекрестных помех между питанием и сигналом.

В данном докладе будут затронуты следующие вопросы:

  • Повышение точности и надежности тестирования при отладке распределенных цепей питания/полигонов (PDN)
  • Упрощение выявления основных причин шума в распределенных цепях питания
  • Исключение ошибочных отрицательных (или положительных) результатов тестирования
  • Ознакомление со специализированными инструментами, позволяющими упростить работу при анализе целостности питания

Тема 4: Основы формирования сигналов произвольной формы

Получите основные сведения о генераторах сигналов произвольной формы и облегчите себе дальнейший выбор подходящего прибора для разработки цифровых оптических или электрических устройств

Тестирование электронных устройств или систем предполагает подачу входных воздействий на тестируемое устройство/систему и анализ характера изменения выходного сигнала. Иногда для испытаний используются реальные входные воздействия, но в большинстве случаев для обеспечения воспроизводимости результатов измерений для подачи тестовых сигналов применяют специализированные приборы, например, генераторы сигналов произвольной формы. По мере того, как устройства и интерфейсы становятся все более быстродействующими и более сложными, особую важность приобретает гибкость испытательного оборудования. Генераторы сигналов произвольной формы позволяют формировать самые разнообразные сигналы.

В данном докладе будут рассмотрены критерии, которые необходимо учитывать при выборе генератора сигналов произвольной формы для использования в процессе разработки цифровых оптических и электрических устройств, широкополосных радаров, средств спутниковой связи, а также в фундаментальных исследованиях. Будет рассказано о наиболее важных особенностях формирования цифровых многоуровневых сигналов и сигналов с амплитудно-импульсной модуляцией, например, PAM-4, сигналов беспроводной связи и сигналов со сложной модуляцией, сигналов с несколькими несущими, а также когерентных оптических сигналов.

Подробнее об условиях участия читайте на сайте Keysight Technologies по данной ссылке.

www.keysight.com


О компании:  Keysight Technologies

Возврат к списку


Материалы по теме:

Свежий номер
№ 2 Апрель 2019
КИПиС 2019 № 2
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений