English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(497)
Новости Anritsu(109)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(76)
Новости Keysight Technologies(573)
Новости Metrel(15)
Новости National Instruments(265)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(72)
Новости Rohde & Schwarz(475)
Новости Tektronix(195)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(87)
Новости Росстандарта(133)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Семинар National Instruments «LabVIEW Developer Days 2017»

Семинар National Instruments «LabVIEW Developer Days 2017»

18.07.2017

Компания National Instruments приглашает принять участие в крупнейшем мероприятии NI, посвященном программированию – LabVIEW Developer Days.

Дата мероприятия: 29 июля 2017, с 10:00 до 17:00.
Место проведения: Москва, Офис National Instruments, ул. Озёрная, д.42, оф.1201

Данный семинар предназначен для инженеров и исследователей, которые хотят улучшить свои навыки в программировании LabVIEW. В рамках семинара предусмотрены презентации для специалистов различных уровней подготовки и специализаций.

Среди спикеров – выступления сертифицированных специалистов Certified LabVIEW Developer и Certified LabVIEW Architect, которые помогут Вам узнать об их опыте программирования и поделятся советами по прохождению официальной сертификации специалистов LabVIEW.

Также в рамках семинара состоится презентация новой графической среды разработки LabVIEW NXG.

Участие в семинаре бесплатное, по предварительной регистрации. Число мест строго ограничено!

По результатам семинара будут выдаваться Сертификаты об участии.

Просмотреть полную программу семинара, а также зарегистрироваться с помощью учетной записи пользователя NI можно по данной ссылке.

www.ni.com


О компании:  National Instruments

Возврат к списку


Материалы по теме:

Обзоры и анонсы выставок
Свежий номер
№ 4 Август 2019
КИПиС 2019 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
26.08.1873
Родился американский изобретатель, один из отцов "века электроники"