English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(477)
Новости Anritsu(104)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(74)
Новости Keysight Technologies(547)
Новости Metrel(14)
Новости National Instruments(259)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(70)
Новости Rohde & Schwarz(441)
Новости Tektronix(193)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(86)
Новости Росстандарта(122)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

Семинар «Основы измерений параметров ВЧ- и СВЧ-сигналов

Семинар «Основы измерений параметров ВЧ- и СВЧ-сигналов

21.05.2018

Компания Keysight Technologies приглашает принять участие в семинаре «Основы измерений параметров ВЧ- и СВЧ-сигналов», который пройдёт 23 мая 2018 в Ростове-на-Дону и 24 мая -  в Таганроге.

В рамках семинара будут обсуждаться основные виды ВЧ-измерений, включая конкретные прикладные задачи, что, несомненно, станет интересным для инженеров, занимающихся научными исследованиями, разработкой новых устройств, их тестированием или производством, и преподавателей ВУЗов.

Участники семинара смогут увидеть новейшие решения компании Keysight и получить практические навыки для проведения измерений.

В ходе семинара будет рассматриваться следующие темы:

Тема 1: Основы анализа спектра
Изучите основы анализа спектра вместе с экспертами Keysight

Вводный учебный курс по основам анализа спектра, также включает материалы по векторному анализу сигналов. Курс разработан для тех, кто не имеет обширного опыта работы с анализаторами спектра и векторными анализаторами сигналов, но хотел бы получить общее представление о том, как они работают, а также, что нужно знать, чтобы в полном объеме использовать их возможности, и как сделать их использование более эффективным. Презентация предназначена, главным образом, для молодых инженеров, от которых требуется знание базовых принципов электротехники.

Презентация будет начата с общих сведений об анализе спектра. В этом разделе будут даны определение анализа спектра, а также представлен краткий обзор основных видов измерений, выполняемых с помощью анализаторов сигналов и спектра. Затем участникам будет предложено ознакомиться с устройством аппаратной части анализаторов сигналов и спектра, узнать о том, какую роль играет каждый из компонентов и как функционирует прибор в целом. Чтобы правильно проводить измерения с помощью анализатора сигналов и грамотно интерпретировать результаты измерений, важно четко понимать характеристики анализатора. Знание технических характеристик анализаторов сигналов и спектра поможет определить, способен ли конкретный прибор выполнять нужные вам виды измерений, и насколько точными будут полученные результаты.

Тема 2: Основы векторного анализа сигналов
Глубокий анализ сигналов с помощью программы 89600 VSA

В данной части семинара будет рассмотрена тема векторного анализа сигналов. Программа векторного анализа сигналов 89600 VSA поддерживает анализ более 75 типов сигналов, в том числе сигналы стандартов LTE-Advanced и 802.11ac. Для заказчиков в оборонной и аэрокосмической отраслях будут предложены решения для анализа импульсных сигналов и непрерывных сигналов РЛС с частотной модуляцией (FMCW) наряду с гибкими возможностями для проведения анализа нестандартных или специализированных сигналов с помощью стандартных инструментов.

Тема 3: Основы измерений ВЧ-мощности
Изучите основы измерений ВЧ-мощности вместе с экспертами Keysight

Учебный курс по измерению ВЧ-мощности охватывает сущность, виды и методы измерений мощности. В нем также описаны различные типы преобразователей мощности: термисторные, термопарные и диодные детекторы. В ходе доклада рассматриваются самые современные виды измерений, используемые для перспективных ВЧ-и СВЧ-приложений, и методы расчета неопределенности измерений мощности.

Тема 4: Основы анализа цепей
Изучите основы анализа цепей вместе с экспертами Keysight

Этот доклад посвящен основам анализа ВЧ-цепей и основным сведениям об измерениях S-параметров, также в нем будут рассмотрены архитектура и калибровка векторных анализаторов цепей.

Векторный анализатор цепей (ВАЦ) — это измерительный инструмент, который позволяет проверять электрические характеристики высокочастотных компонентов в ВЧ-, СВЧ- и миллиметровом диапазоне частот (предлагается использовать общий термин «ВЧ» применительно ко всем этим диапазонам частот). ВАЦ представляет собой систему тестирования по принципу «стимул-отклик», которая состоит из источника ВЧ-сигналов и нескольких измерительных приемников. Классический ВАЦ предназначен, главным образом, для измерения параметров отражения и передачи (или S-параметров) ВЧ-компонентов в прямом и обратном направлениях. S-параметры характеризуются величиной амплитуды и фазы и позволяют описывать линейное поведение тестируемого устройства. И хотя ВАЦ могут также использоваться для определения некоторых нелинейных характеристик устройств, например, компрессии коэффициента усиления или интермодуляционных искажений, измерение S-параметров является базовым видом измерений. Аппаратная часть анализатора цепей оптимизирована для выполнения быстрых гибких измерений с перестройкой по частоте или по мощности, скорость которых получается выше, чем при использовании отдельного источника и отдельного приемника, как в системе на основе анализатора спектра. Благодаря калибровке векторные анализаторы цепей обеспечивают высочайший уровень точности при измерении параметров ВЧ-компонентов.

Тема 5: Основы разработки и моделирования ВЧ-устройств
Изучите основы разработки ВЧ- и СВЧ-устройств вместе с экспертами Keysight

Этот раздел посвящен методам и средствам моделирования устройств с помощью САПР Keysight EEsof.

Будут рассмотрены вопросы моделирования S-параметров, согласования импедансов, настройки, оптимизации и моделирования устройств. Здесь участники семинара также будут ознакомлены с X-параметрами, узнают об интеграции S-параметров в процесс тестирования и проектирования. В ходе демонстрации будут использованы САПР ADS и Genesys.

Подробнее об условиях участи и регистрации читайте на сайте Keysight Technologies по данной ссылке.

www.keysight.com


О компании:  Keysight Technologies

Возврат к списку


Материалы по теме:

Свежий номер
№ 6 Декабрь 2018
КИПиС 2018 № 6
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
12.12.1927
Родился американский инженер, один из изобретателей интегральной схемы (1959), один из основателей Fairchild Semiconductor (1957), основатель, совместно с Гордоном Муром, корпорации Intel (1968)
12.12.1843
День рождения