English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(427)
Новости Anritsu(96)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(71)
Новости Keysight Technologies(510)
Новости Metrel(6)
Новости National Instruments(244)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(57)
Новости Rohde & Schwarz(386)
Новости Tektronix(180)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(70)
Новости Росстандарта(94)
AKTAKOM
Anritsu
Fluke
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

Начало поставок платформы для 3D ЭМ моделирования, обладающей еще большей производительностью

Начало поставок платформы для 3D ЭМ моделирования, обладающей еще большей производительностью

05.04.2012

Компания Agilent Technologies объявила о начале поставок новейшей версии профессионального программного обеспечения для электромагнитного моделирования EMPro 2011.11. Обновленная платформа для создания объемных моделей и 3D ЭМ моделирования отличается повышенной скоростью работы и улучшенными технологиями разработки и проверки ВЧ устройств.
Тесно интегрированное с САПР ADS компании Agilent, приложение EMPro используется для создания 3D моделей и анализа электромагнитного взаимодействия корпусов ИС, разъемов, антенн и других ВЧ компонентов. Версия EMPro 2011.11 обладает всеми преимуществами версии 2011.07, но отличается существенными усовершенствованиями симулятора FEM, использующего метод конечных элементов:
  • Быстрый итерационный симулятор на основе метода FEM удваивает скорость моделирования устройств с внутренними портами. Это стабильное улучшение отражает стремление Agilent к совершенствованию технологии моделирования.
  • Возможность самостоятельно задавать значения пассивной нагрузки. Это позволяет включать идеальные пассивные нагрузки непосредственно в симулятор FEM для представления согласующих цепей и компонентов поверхностного монтажа. (Нагрузки определяются в среде настройки ЭМ параметров, состоящей из последовательно и параллельно включенных элементов RCL. Эта возможность позволяет получать точные результаты визуализации поля и диаграммы направленности с учетом пассивных компонентов.)
  • Быстрый симулятор для двухмерных (плоских) портов, упрощающий настройку портов для симулятора FEM позволяет быстро и просто определять количество узлов, а также эталонный импеданс и положение линии для получения оптимального импеданса.
Подробная информация о приложении EMPro 2011.11 приведена на странице: www.agilent.com/find/eesof-empro2011.11.

Agilent Technologies

www.agilent.ru



О компании:  Keysight Technologies

Возврат к списку


Материалы по теме:

Свежий номер
№ 5 Октябрь 2017
КИПиС 2017 № 5
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
20.10.1891
Родился английский физик, известный за открытие нейтрона и фотоядерной реакции, лауреат Нобелевской премии по физике 1935 года
20.10.1902
День рождения разработчика МЭСМ