English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(497)
Новости Anritsu(109)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(76)
Новости Keysight Technologies(573)
Новости Metrel(15)
Новости National Instruments(265)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(72)
Новости Rohde & Schwarz(475)
Новости Tektronix(195)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(87)
Новости Росстандарта(133)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Семинар "ВЧ Платформа National Instruments для разработки и тестирования радиосредств и ЭКБ"

Семинар "ВЧ Платформа National Instruments для разработки и тестирования радиосредств и ЭКБ"

06.10.2017

Компания National Instruments приглашает принять участие в семинаре "ВЧ Платформа National Instruments для разработки и тестирования радиосредств и ЭКБ", который пройдёт 10 октября 2017 в Киеве.

Адрес мероприятия: ул. Р. Окипной, д. 2, отель "Турист", конференц-зал.

В ходе семинара будут представлены новинки компании National Instruments для автоматизации измерений и тестирования компонентов и узлов электронных и радиотехнических систем, а также решения для цифровой обработки радиосигналов, макетирования сложных СВЧ систем, тестирования радиоэлектронных устройств и ЭКБ.

Вы получите уникальную возможность обсудить свои задачи с инженерами-разработчиками, которые ответят на Ваши вопросы и поделятся опытом разработки систем тестирования и других программно-аппаратных комплексов.

Участие в семинаре бесплатное, по предварительной регистрации.

Посмотреть полную программу семинара, а также зарегистрироваться можно по данной ссылке.

www.ni.com


О компании:  National Instruments

Возврат к списку


Материалы по теме:

Обзоры и анонсы выставок
Свежий номер
№ 4 Август 2019
КИПиС 2019 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
26.08.1873
Родился американский изобретатель, один из отцов "века электроники"