English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(434)
Новости Anritsu(96)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(71)
Новости Keysight Technologies(516)
Новости Metrel(6)
Новости National Instruments(249)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(58)
Новости Rohde & Schwarz(393)
Новости Tektronix(184)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(70)
Новости Росстандарта(95)
AKTAKOM
Anritsu
Fluke
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Семинар Rohde & Schwarz на выставке RADEL

Семинар Rohde & Schwarz на выставке RADEL

20.11.2017

Компания Rohde & Schwarz приглашает посетить свой стенд на выставке «Радиоэлектроника. Приборостроение. Автоматизация. RADEL – 2017», которая пройдёт с 21 по 23 ноября 2017г. в Петербургском СКК по адресу: г. Санкт-Петербург, пр. Гагарина, д. 8.

Международная выставка RADEL - специализированная выставка электронных компонентов и комплектующих, материалов, технологий, оборудования, услуг, сертификации, сервиса в радиоэлектронике и приборостроении, проходит в Петербурге с 2001 года.

На стенде компании № D4 будет представлено новейшее контрольно-измерительное оборудование для различных областей радиоэлектроники и приборостроения, а также для сфер аэрокосмической, оборонной промышленности и исследований. Наряду с измерительным оборудованием у участников будет возможность познакомиться с компактной универсальной системой для испытаний по требованиям ЭМС - R&S®CEMS100.

В рамках выставки планируется проведение семинара “Решения компании Rohde & Schwarz для измерений в радиоэлектронике и тестирования в соответствии с требованиями электромагнитной совместимости (ЭМС)”. В ходе семинара вашему вниманию будет представлено новейшее контрольно-измерительное оборудование, которое участвует во всех этапах разработки и тестирования устройств: от полупроводниковых элементов до готовых изделий. Особое внимание будет уделено вопросам, связанным с решением задач в области тестирования на ЭМС.

Семинар состоится 22 ноября в зале №2, начало в 10.00.

Подробную программу семинара можно посмотреть по данной ссылке.

Пригласительный билет на выставку

www.rohde-schwarz.com


О компании:  Rohde & Schwarz

Возврат к списку


Материалы по теме:

Свежий номер
№ 6 Декабрь 2017
КИПиС 2017 № 6
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
18.12.1890
Родился американский радиоинженер и изобретатель
18.12.1856
День рождения