English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(486)
Новости Anritsu(108)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(75)
Новости Keysight Technologies(563)
Новости Metrel(15)
Новости National Instruments(265)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(71)
Новости Rohde & Schwarz(463)
Новости Tektronix(194)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(87)
Новости Росстандарта(131)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

Keysight Technologies представляет первую программную платформу, объединяющую процессы проектирования, моделирования и тестирования

Keysight Technologies представляет первую программную платформу, объединяющую процессы проектирования, моделирования и тестирования

20.02.2018

Компания Keysight Technologies, Inc., ведущий поставщик оборудования, ПО и услуг для проектирования, тестирования и оптимизации электронных устройств, объявила о выходе PathWave – первой в отрасли программной платформы, объединяющей средства проектирования, тестирования, измерений и анализа. Платформа PathWave от компании Keysight позволяет заказчикам ускорить внедрение инноваций и разработку продуктов на всех этапах — от создания концепции до производства.

Платформа PathWave опирается на богатый опыт компании Keysight в области согласованных, точных и достоверных измерений. Новая программная платформа предлагает заказчикам гибкий и оперативный доступ к необходимым средствам проектирования и тестирования. Объединение средств проектирования и тестирования с расширенной системой управления данными значительно сокращает цикл разработки, устраняя необходимость в повторном создании отдельных измерительных схем и планов испытаний на каждом этапе процесса.

«Большинство циклов разработки продуктов не связаны друг с другом, и в результате на каждой стадии возникают новые трудности, замедляющие внедрение инновационных технологий и выпуск продукции, — считает Джесси Кавазос (Jessy Cavazos), руководитель направления тестирования и измерений компании Frost & Sullivan. Компания Keysight, будучи лидером в области разработки электронных устройств, использует свой уникальный опыт для объединения процессов проектирования и тестирования на различных этапах создания продукции, обеспечивая неизменное удобство пользования и используя широко распространенные форматы данных. Это позволяет ускорить внедрение инноваций и выпуск продукции высокого качества».

PathWave представляет собой открытую масштабируемую и прогнозирующую программную платформу, объединяющую оборудование и программное обеспечение на каждом этапе разработки электронных устройств. Она объединяет среду проектирования и моделирования, систему управления приборами и специализированное измерительное ПО в открытой системе разработки, позволяя быстро создавать высокопроизводительные решения.

  • Открытость. PathWave позволяет подключать и интегрировать все средства проектирования и тестирования:
    - предлагает открытые API, упрощающие и ускоряющие настройку;
    - легко объединяет лучшие в своем классе технологии, в том числе ПО и оборудование сторонних производителей;
    - обеспечивает быстрое подключение совместимого оборудования, ускоряя процессы тестирования и повышая производительность.
  • Масштабируемость. PathWave предлагает гибко изменяемую вычислительную мощность, способную адаптироваться в соответствии с меняющимися требованиями:
    - локальная работа, работа в облаке или совмещение обоих этих режимов ускоряет расчеты в ходе проектирования и тестирования;
    - обработка данных испытаний в ходе всего технологического процесса может выполняться локально или в облаке;
    - ускоряет переход между этапами проектирования и испытаний.
  • Прогнозирование. Платформа PathWave обладает мощными средствами анализа, ускоряющими диагностику:
    - оперативно предоставляет всеобъемлющие аналитические данные для выявления тенденций и диагностики проблем;
    - контролирует загрузку и состояние всех ресурсов, повышая производительность и упрощая планирование;
    - собирает и анализирует большие объемы данных, ускоряя выполнение и повышая и эффективность рабочих процессов.

«Мы осознаем те огромные преимущества, которые связаны с появлением новых технологий, — от облачных вычислений, обработки больших объемов данных, машинного обучения и искусственного интеллекта до дополненной реальности и различных типов мобильных платформ, — заявил Джей Александер (Jay Alexander), старший вице-президент и технический директор компании Keysight Technologies. — Но для того, чтобы в полной мере воспользоваться всеми преимуществами новых технологий и эффективно их реализовать, нужно хорошо знать всю технологию разработки и тестирования и обладать богатым метрологическим опытом. Компания Keysight всегда стремится дополнять вновь появляющиеся технологии новыми решениями, которые помогают нашим заказчикам преодолевать барьеры на пути к инновациям и создавать эффективные рабочие процессы».

Платформа PathWave включает в себя ряд интегрированных программных продуктов для всего цикла разработки, тестирования и контроля рабочих характеристик электронных устройств. Эти продукты можно объединять и быстро настраивать, создавая самые эффективные в отрасли рабочие процессы, позволяющие:

  • эффективно распределять вычислительные ресурсы в соответствии с текущими потребностями;
  • анализировать собранные данные для оптимизации рабочих процессов;
  • обеспечивать совместимость нового оборудования и ПО с уже используемыми решениями для достижения максимальной окупаемости вложений;
  • прогнозировать возникновение «узких» мест и оперативно их устранять, обеспечивая эффективность рабочих процессов;
  • оценивать состояние проекта из любой точки, контролируя ход его выполнения.

Компания Keysight представила платформу PathWave на выставке-конференции DesignCon, которая прошла с 31 января по 1 февраля 2018.

www.keysight.com



О компании:  Keysight Technologies

Возврат к списку


Материалы по теме:

Свежий номер
№ 2 Апрель 2019
КИПиС 2019 № 2
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала