English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(474)
Новости Anritsu(103)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(74)
Новости Keysight Technologies(541)
Новости Metrel(13)
Новости National Instruments(257)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(68)
Новости Rohde & Schwarz(433)
Новости Tektronix(192)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(83)
Новости Росстандарта(121)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Компания Keysight проводит авторский семинар Джоэля Дансмора, автора мирового бестселлера «Измерения параметров СВЧ-устройств с использованием передовых методик векторного анализа цепей»

Компания Keysight проводит авторский семинар Джоэля Дансмора, автора мирового бестселлера «Измерения параметров СВЧ-устройств с использованием передовых методик векторного анализа цепей»

15.05.2018

Компания Keysight Technologies проводит бесплатный семинар «Секреты векторного анализа цепей. Новейшие методики векторного анализа цепей и компонентов», который пройдет в Москве 17 мая 2018 г. в гостинице «Золотое кольцо».

Вести семинар будет Джоэль Дансмор, инженер-разработчик, на протяжении 35 лет работающий в компании Keysight Technologies. Джоэль Дансмор – автор книги, настоящего мирового бестселлера, «Измерения параметров СВЧ-устройств с использованием передовых методик векторного анализа цепей», официальная презентация русского издания которой состоится сегодня, 15 мая 2018 г., в рамках 14-ого Московского международного инновационного форума «Точные измерения – основа качества и безопасности». Книга выходит в издательстве «Техносфера».

В ходе семинара будут представлены новейшие технологии, разработанные для повышения точности, воспроизводимости и прослеживаемости измерений параметров ВЧ-/СВЧ-устройств с помощью векторных анализаторов цепей, будут подробно обсуждаться измерения активных и пассивных устройств с использованием новейших методик векторного анализа цепей, в том числе конфигурации современных векторных анализаторов цепей, методики их калибровки, подходы к анализу полученных результатов измерений, а также анализу неопределенностей и составляющих систематической погрешности. Значительная часть семинара будет посвящена обсуждению наглядных практических примеров измерений параметров активных устройств, таких как усилители и преобразователи частоты.

Читайте подробнее об условиях регистрации по данной ссылке.

www.keysight.com


О компании:  Keysight Technologies

Возврат к списку


Материалы по теме:

Свежий номер
№ 5 Октябрь 2018
КИПиС 2018 № 5
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
20.10.1891
Родился английский физик, известный за открытие нейтрона и фотоядерной реакции, лауреат Нобелевской премии по физике 1935 года
20.10.1902
День рождения разработчика МЭСМ