English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(473)
Новости Anritsu(103)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(74)
Новости Keysight Technologies(541)
Новости Metrel(13)
Новости National Instruments(257)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(68)
Новости Rohde & Schwarz(433)
Новости Tektronix(192)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(83)
Новости Росстандарта(121)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Компания Agilent Technologies объявила о выпуске решения для тестирования устройств беспроводной связи в условиях производства

Компания Agilent Technologies объявила о выпуске решения для тестирования устройств беспроводной связи в условиях производства

31.10.2012

E6607B EXT представляет собой интегрированный прибор для тестирования, который включает векторный анализатор сигналов, векторный генератор сигналов, анализатор высокоскоростных кодовых последовательностей и средства аппаратной поддержки сетей различных стандартов. Он рассчитан на работу с перспективными стандартами сотовой связи и обеспечивает полный охват диапазонов до 3,8 ГГц (включая диапазон LTE TDD 43), а также поддерживает режимы быстрого последовательного тестирования, реализованные в новейших наборах микросхем.

Компактный и недорогой многопортовый адаптер добавляет возможность одновременного тестирования приемников, последовательного тестирования передатчиков и одновременного тестирования до четырех двухантенных модулей GPS. Интерфейс адаптера поддерживает функцию «plug-and-play», а полностью калиброванные порты – восемь сотовых и четыре GPS –расширяют возможности тестера E6607B EXT.

«Предварительная оценка совместного использования E6607B с E6617A показала значительное увеличение скорости тестирования, – сказал Джо ДеПонд (Joe DePond), вице-президент и генеральный менеджер отдела мобильной широкополосной связи компании Agilent. – В сочетании с нашими передовыми контрольно-измерительными технологиями и прикладным программным обеспечением, это решение помогает нашим заказчикам достичь беспрецедентного роста производительности и снижения стоимости тестирования».

Чтобы удовлетворить будущие потребности производственного тестирования, E6607B EXT можно дополнить многими измерительными приложениями серии X для сотовой связи, беспроводных сетей и цифрового аудио/видео. Новое решение для тестирования беспроводной связи включает три дополнения: LTE TDD, TD-SCDMA и аналоговую демодуляцию. Индивидуальные измерительные приложения серии X могут входить в комплект поставки прибора или приобретаться отдельно.

Обширный набор бесплатных программных средств ускоряет разработку тестов. Например, программное обеспечение Agilent Signal Studio упрощает создание сигналов нисходящего канала без сигнализации (управляющих и испытательных) для использования их с тестером E6607B EXT. В процессе подготовки к серийному производству ПО Agilent Sequence Studio позволяет инженерам быстро создавать и проверять методики тестирования. Сокращению времени выхода изделий на рынок способствует ПО для наборов микросхем Agilent, предлагающее графический интерфейс пользователя и интерфейс программирования для управления, калибровки и проверки разрабатываемых устройств.

E6607B EXT в составе производственной линии помогает ускорить тестирование и повысить выход готовой продукции. Одним из ключевых элементов тестера является расширенный анализатор последовательностей, который работает синхронно с тестовым режимом микросхем беспроводной связи, устраняя избыточную сигнализацию и позволяя выполнять несколько измерений в ходе одного цикла захвата.

По габаритам и функциональности E6607B полностью совместим с прежней версией E6607A EXT.


О компании:  Keysight Technologies

Возврат к списку


Материалы по теме:

Свежий номер
№ 5 Октябрь 2018
КИПиС 2018 № 5
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
20.10.1891
Родился английский физик, известный за открытие нейтрона и фотоядерной реакции, лауреат Нобелевской премии по физике 1935 года
20.10.1902
День рождения разработчика МЭСМ