English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(466)
Новости Anritsu(101)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(74)
Новости Keysight Technologies(537)
Новости Metrel(11)
Новости National Instruments(257)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(61)
Новости Rohde & Schwarz(425)
Новости Tektronix(190)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(80)
Новости Росстандарта(113)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Rohde & Schwarz приглашает на VIII-ую Международную отраслевую научно-техническую конференцию “Технологии информационного общества”

Rohde & Schwarz приглашает на VIII-ую Международную отраслевую научно-техническую конференцию “Технологии информационного общества”

20.02.2014

Московское представительство Rohde & Schwarz приглашает Вас 20 и 21 февраля 2014 года посетить VIII-ую Международную отраслевую научно-техническую конференцию “Технологии информационного общества”.

В рамках конференции специалисты компании Rohde & Schwarz выступят с докладом на тему «Оборудование SwissQual - аппаратно-программные комплексы для проведения радиоизмерений, драйв тестов и бенчмаркинга».

Семинар состоится по адресу:
111024, Москва, Авиамоторная 8а
Московский технический университет связи и информатики
Конгресс-центр

Время проведения
c 20 по 21 февраля 2014г. с 10-00 до 19-00

Посмотреть план мероприятия.

Rohde & Schwarz


О компании:  Rohde & Schwarz

Возврат к списку


Материалы по теме:

Свежий номер
№ 4 Август 2018
КИПиС 2018 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
15.08.1892
День рождения