English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(467)
Новости Anritsu(101)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(74)
Новости Keysight Technologies(537)
Новости Metrel(11)
Новости National Instruments(257)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(61)
Новости Rohde & Schwarz(425)
Новости Tektronix(190)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(80)
Новости Росстандарта(113)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Семинар "Технологии National Instruments для тестирования и разработки радиоэлектронных комплексов и систем - 2012"

Семинар "Технологии National Instruments для тестирования и разработки радиоэлектронных комплексов и систем - 2012"

13.10.2012

18 октября 2012 г. состоится семинар "Технологии National Instruments для тестирования и разработки радиоэлектронных комплексов и систем - 2012".

Место проведения семинара: г. Москва, Конгресс-центр МТУСИ, ст. м. "Авиамоторная", ул. Авиамоторная 8-а, начало в 10.00.

На семинаре будут рассмотрены следующие темы:

- Новые продукты National Instruments для решения задач разработки и тестирования радиоэлектронных комплексов и систем;
- Применение технологии PXIe/PXI при разработке радиотехнических комплексов, метрологической, поверочной и тестирующей аппаратуры для радиотехнических устройств и ЭКБ;
- Разработка многоканальных когерентных комплексов приема и генерации СВЧ сигналов для задач контроля параметров ФАР / АФАР и имитации радиообстановки;
- NI VST - векторные приемо-передатчики СВЧ сигналов на базе ПЛИС – новейшие технологии программируемого радио (SDR) в формате PXIe.

Программа семинара

Участие в семинаре бесплатное, по предварительной регистрации.
Зарегистрироваться на семинар


О компании:  National Instruments

Возврат к списку


Материалы по теме:

Обзоры и анонсы выставок
Свежий номер
№ 4 Август 2018
КИПиС 2018 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
15.08.1892
День рождения