English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(486)
Новости Anritsu(108)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(75)
Новости Keysight Technologies(563)
Новости Metrel(15)
Новости National Instruments(265)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(71)
Новости Rohde & Schwarz(463)
Новости Tektronix(194)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(87)
Новости Росстандарта(130)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Новый пакет инструментов LabVIEW для тестирования приемных устройств GPS

Новый пакет инструментов LabVIEW для тестирования приемных устройств GPS

16.06.2008

Компания National Instruments анонсировала выход набора инструментов для LabVIEW - NI GPS Toolkit, представляющего собой дополнение к среде графической разработки. Этот набор инструментов расширяет спектр функциональных возможностей платформы NI RF PXI и позволяет проводить симуляцию GPS-сигналов нескольких спутников. Используя программное обеспечение NI LabVIEW для генерации радиосигналов и симуляции сигналов 12 спутников (формируя последовательность навигационных C/A кодов в полосе частот L1), инженеры могут измерять чувствительность приемного устройства, регистрировать время захвата (TTFF) и определять точность позиционирования при помощи генератора векторных сигналов NI PXIe-5672 RF.

«Пакет GPS Toolkit является многофункциональным, удобным решением для моделирования систем GPS, позволяя нам осуществлять комплексный контроль положения виртуального приёмного устройства» - заявил Леонардо Бонаноми, начальник сектора по разработке систем испытаний компании Services for Electronic Manufacturing (SEM). «Этот пакет, в сочетании с NI TestStand и NI LabVIEW, помогает нам создавать универсальные и легко конфигурируемые автоматические системы для испытания приёмных устройств GPS.»

Благодаря новому программному обеспечению, инженеры могут использовать комбинацию смоделированных и записанных GPS-радиосигналов в качестве универсального недорогого решения для проверки и контроля при проектировании приёмных устройств. При помощи анализатора векторных сигналов NI PXI-5661 RF и предусилителя NI PXI-5690 (малошумящего усилителя), разработчики могут принимать и записывать сигналы GPS с характерными искажениями, имеющими место при регистрации сигналов с реального спутника. Появилась возможность генерировать как смоделированные, так и записанные сигналы с помощью генератора векторных сигналов NI PXIe-5672 RF, производя последовательное копирование отсчетов GPS-сигналов, сохраненных на жёстком диске. Используя RAID-массив емкостью 2 ТБ, разработчики могут формировать поток смоделированных сигналов с мгновенной длительностью до 12,5 минут или же 25 часовую непрерывную последовательность предварительно записанных GPS-сигналов для регистрации и анализа отклика приёмника на широкий диапазон сигналов.

Разработчики могут использовать пакет GPS совместно c комплектом виртуальных приборов для модуляции сигналов NI Modulation Toolkit, программным обеспечением для тестовых испытаний NI TestStand и модульным оборудованием PXI RF для создания комплексной и недорогой системы тестирования. Так как алгоритм работы PXI-системы полностью определяется программной частью, при помощи PXI-платформы можно также тестировать устройства для беспроводной передачи данных работающих в соответствии с протоколами RDS, WiFi, GSM, WCDMA, Bluetooth и DVB. Измерительные системы, созданные на базе платформы PXI, отличаются более низкой стоимостью, универсальностью и высокой скоростью обработки данных по сравнению с традиционными измерительными системами, применяемыми в серийных испытаниях продукции. При проведении многофункционального тестирования, выбор в пользу PXI становится еще более очевидным.

Для получения дополнительной информации о пакете GPS для LabVIEW, посетите страницу http://sine.ni.com/nips/cds/view/p/lang/en/nid/204980.


О компании:  National Instruments

Возврат к списку


Материалы по теме:

Обзоры и анонсы выставок
Энциклопедия измерений
Свежий номер
№ 2 Апрель 2019
КИПиС 2019 № 2
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений