English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(474)
Новости Anritsu(103)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(74)
Новости Keysight Technologies(541)
Новости Metrel(13)
Новости National Instruments(257)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(68)
Новости Rohde & Schwarz(433)
Новости Tektronix(192)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(83)
Новости Росстандарта(121)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Rohde&Schwarz участвует в выставке Новая электроника – 2014

Rohde&Schwarz участвует в выставке Новая электроника – 2014

25.03.2014

Rohde&Schwarz приглашает Вас посетить свой стенд на выставке "Новая Электроника", которая пройдет с 25 по 27 марта в Экспоцентре (г. Москва, м. Выставочная),

павильон 7, зал 4, стенд № 10.

В рамках выставки состоится презентация нового осциллографа серии R&S RTE. Осциллограф серии RTE – это идеальное решение для выполнения задач отладки и анализа в лабораторных условиях.

Вы сможете познакомиться с прибором, увидеть и опробовать его уникальные возможности.

Rohde & Schwarz


О компании:  Rohde & Schwarz

Возврат к списку


Материалы по теме:

Свежий номер
№ 5 Октябрь 2018
КИПиС 2018 № 5
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
20.10.1891
Родился английский физик, известный за открытие нейтрона и фотоядерной реакции, лауреат Нобелевской премии по физике 1935 года
20.10.1902
День рождения разработчика МЭСМ