English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(467)
Новости Anritsu(101)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(74)
Новости Keysight Technologies(538)
Новости Metrel(11)
Новости National Instruments(257)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(61)
Новости Rohde & Schwarz(425)
Новости Tektronix(190)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(80)
Новости Росстандарта(113)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Решение для тестирования устройств NFC от компании Rohde&Schwarz

Решение для тестирования устройств NFC от компании Rohde&Schwarz

25.12.2012

Компания Rohde&Schwarz анонсирует новое программное и аппаратное обеспечение для тестирования устройств NFC.

Ранее уже было выпущено ПО R&S®FS-K112PC, используемое с генератором R&S®SMBV100A и осциллографом R&S®RTO или анализатором спектра, осуществляющее анализ сигналов стандарта NFC.

Теперь к линейке продуктов добавлен набор антенн, соответствующий спецификации NFC Analog Specification ANALOG 1.0, включающий также набор катушек индуктивности, описаных в приложении D спецификации. В ближайшее время планируется выпуск новой программной опции для генератора векторных сигналов R&S®SMBV-K89, которая позволит создавать сигналы NFC непосредственно с прибора.

Антенны и программное обеспечение позволят проводить предсертификационное тестирование устройств NFC в соотвествии со спецификациями NFC Forum.

В ближайшее время будет выпущено руководство по применению ПО и приборов при проведении измерений.




О компании:  Rohde & Schwarz

Возврат к списку


Материалы по теме:

Свежий номер
№ 4 Август 2018
КИПиС 2018 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала