English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(467)
Новости Anritsu(101)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(74)
Новости Keysight Technologies(537)
Новости Metrel(11)
Новости National Instruments(257)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(61)
Новости Rohde & Schwarz(425)
Новости Tektronix(190)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(80)
Новости Росстандарта(113)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Семинар-презентация «Системы машинного зрения» в Санкт-Петербурге

Семинар-презентация «Системы машинного зрения» в Санкт-Петербурге

23.05.2014

Компания National Instruments приглашает посетить семинар-презентацию своего партнера - компании «ВиТэк». Семинар, посвящен вопросам практического применения систем машинного зрения в различных отраслях промышленности для идентификации или контроля качества выпускаемой продукции.

В ходе презентации будут представлены современные технологии и компоненты от ведущих мировых производителей оборудования и программного обеспечения:

  • Basler AG (Германия);
  • National Instruments Corp.(США);
  • SICK (Германия);
  • Schneider Kreuznach (Германия);
  • Opto Engineering (Италия);
  • Z-Laser (Германия).

Время проведения: 29 мая 2014 года, 10:00-14:00.

Место проведения: г. Санкт-Петербург, Гостиница «РОССИЯ», Конференц-зал «Екатерининский», ул. Чернышевского, 11, ст.м. «Парк Победы», вход с ул. Варшавской.

Подробная информация о мероприятии

National Instruments


О компании:  National Instruments

Возврат к списку


Материалы по теме:

Обзоры и анонсы выставок
Свежий номер
№ 4 Август 2018
КИПиС 2018 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
15.08.1892
День рождения