English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(438)
Новости Anritsu(97)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(71)
Новости Keysight Technologies(519)
Новости Metrel(7)
Новости National Instruments(249)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(58)
Новости Rohde & Schwarz(396)
Новости Tektronix(185)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(71)
Новости Росстандарта(96)
AKTAKOM
Anritsu
Fluke
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Компания Keitley Instruments получает награду за систему измерений полупроводников

Компания Keitley Instruments получает награду за систему измерений полупроводников

27.08.2008

Компания Keitley Instruments, лидер в создании решений в области измерительной техники, объявила о получении престижной награды журнала Semiconductor International «Лучший продукт по мнению редактора» за свою систему измерения полупроводников 4200-CVU, предназначенной для ускорения и облегчения C-V измерений (снятия вольт-фарадных характеристик).

Журнал проводит ежегодные номинации «найти и наградить продукты, созданные компаниями, показывающими непревзойденный уровень мастерства» в индустрии полупроводников.

«C-V измерения  становятся все более важной частью при исследовании и разработке полупроводников», - заявил Марк Хоерстен (Mark Hoersten), вице-президент по развитию бизнеса компании Keithley. «Модель 4200-CVU – это быстрый и простой в использовании измерительный инструмент, который жизненно необходим для исследователей и разработчиков, использующих новые материалы полупроводников для электронных устройств нового поколения, таких, как Смарт-фоны, лэптопы, ноутбуки и др.».

Церемония награждения прошла в середине июля в рамках Западно-торговой выставки SEMICON в Сан-Франциско.

О компании:  Keithley Instruments

Возврат к списку


Материалы по теме:

Энциклопедия измерений
Свежий номер
№ 6 Декабрь 2017
КИПиС 2017 № 6
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
23.01.1846
День рождения