English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(426)
Новости Anritsu(96)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(71)
Новости Keysight Technologies(510)
Новости Metrel(6)
Новости National Instruments(244)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(57)
Новости Rohde & Schwarz(386)
Новости Tektronix(180)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(70)
Новости Росстандарта(94)
AKTAKOM
Anritsu
Fluke
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Семинар Agilent Technologies + Cascade Microtech: тестирование полупроводниковых структур

29.09.2008

Компании Agilent Technologies и Cascade Microtech приглашают Вас принять участие в 2х-дневном бесплатном совместном семинаре «Тестирование полупроводниковых структур с помощью измерительных приборов Agilent Technologies и зондовых станций Cascade Microtech», который пройдет в Москве в бизнес-центре Кибмерли-Лэнд с 15 по 16 октября 2008 г.

Компания Agilent Technologies является мировым лидером в области разработки и производства измерительной техники широкого диапазона. На семинаре мы представим прекрасно зарекомендовавший себя параметрический анализатор Agilent B1500A с программным обеспечением EasyEXPERT, который способен в рамках одного прибора проводить интегрированные измерения вольт-амперных (IV) и вольт-фарадных (CV) характеристик, импульсные измерения и испытания на надежность. Модульная конструкция прибора позволяет сконфигурировать его под конкретные потребности заказчика и добиться наилучшего сочетания стоимости и технических характеристик. Новые модули для Agilent B1500A продолжают расширять возможности B1500A по решению современных задач полупроводникового анализа, например, появился модуль генератора импульсов, который обеспечивает непрерывное воспроизведение сигналов произвольной формы в течение сотен тысяч циклов без программирования, что позволяет ускорить тестирование микросхем памяти, а также модуль высокоскоростных IV измерений с возможностью синхронной генерации сигналов произвольной формы, что позволяет решать такие задачи, как импульсные IV измерения, измерения 1/f шума (RTS), NBTI испытания на надежность.

Компания Cascade Microtech является мировым лидером в области разработки и производства зондовых станций для тестирования интегральных схем на этапе полупроводниковой пластины, микросхем в корпусе, печатных плат, электро-оптических, биологических структур и др. Зондовая станция во многих случаях является неотъемлемым звеном для проведения успешных измерений на полупроводниковой пластине.

Цель семинара: познакомить слушателей с новыми решениями Agilent Technologies и Cascade Microtech в области полупроводникового тестирования. Кроме того, мы предоставим участникам семинара уникальную возможность обучения работе с параметрическим анализатором Agilent B1500A и зондовой станцией Cascade M150.

Программа семинара:

День 1

Agilent Technologies

  • Обзор программных и аппаратных возможностей B1500A
  • Обзор решений по CV и импульсным измерениям, тестированию памяти
  • Обзор систем параметрического тестирования Agilent серий 4070/4080

Cascade Microtech

  • Параметрические DC измерения на полупроводниковой пластине
  • Измерение параметров мощных полупроводниковых приборов
  • Обучение продвинутым приемам работы на B1500A и зондовой станции

День 2

Cascade Microtech

  • Измерение S-параметров на полупроводниковой пластине
  • Решения для измерения «розового» (1/f) шума

Agilent Technologies

  • CV измерения в диапазоне от 0 до 110МГц
  • Применение IC-CAP для экстракции параметров и моделирования полупроводниковых устройств
  • Измерения в ВЧ диапазоне с помощью анализаторов цепей
  • Обучение продвинутым приемам работы на B1500A и зондовой станции

В семинаре примут участие западные технические специалисты высочайшего класса компании Agilent Technologies и Cascade Microtech.

Семинар состоится в Москве, 15 и 16 октября (два полных дня – с 9-30 до 18-00).

Зарегистрироваться для участия в семинаре можно будет на сайте www.agilent.ru/find/russia_events (c 01 октября 2008).

ВАЖНО: Количество мест на семинаре строго ограничено!


О компании:  Keysight Technologies

Возврат к списку


Материалы по теме:

Свежий номер
№ 5 Октябрь 2017
КИПиС 2017 № 5
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
20.10.1891
Родился английский физик, известный за открытие нейтрона и фотоядерной реакции, лауреат Нобелевской премии по физике 1935 года
20.10.1902
День рождения разработчика МЭСМ