English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(466)
Новости Anritsu(101)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(74)
Новости Keysight Technologies(537)
Новости Metrel(11)
Новости National Instruments(257)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(61)
Новости Rohde & Schwarz(425)
Новости Tektronix(190)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(80)
Новости Росстандарта(113)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Научно-практическая конференция National Instruments

Научно-практическая конференция National Instruments

30.09.2008

28-29 ноября 2008 года в Российском университете дружбы народов пройдет Седьмая международная научно-практическая конференция «Образовательные, научные и инженерные приложения в среде LabVIEW и технологии National Instruments - 2008». Как и всегда, конференция соберет студентов, профессоров, инженеров со всей России, стран СНГ и Балтии. Организаторами конференции выступят Министерство образования и науки Российской Федерации, российское представительство компании National Instruments и Российский университет дружбы народов.

В рамках круглых столов профессора, преподаватели и руководители высших учебных заведений смогут поделиться своими успехами и опытом в области подготовки квалифицированных инженеров, а также обсудить особенности современного инженерного образования и связи школы, вуза и промышленности.
На секциях, посвященных таким направлениям, как научно-исследовательские и испытательные стенды, радиоэлектроника и телекоммуникации, промышленная автоматизация и встраиваемые системы, участники смогут представить свои доклады, рассказать о впечатляющих достижениях и научных успехах.

Каждый посетитель конференции сможет принять участие в саммитах, посвященных самым последним технологиям и продуктам National Instruments для различных областей, включая электронику и телекоммуникации, виброакустические измерения, разработку мобильных систем диагностики на базе встраиваемых технологий, а также беспроводные системы сбора данных. Один и из саммитов будет полностью посвящен обзору новых возможностей последней версии среды графической разработки LabVIEW, активно используемой более чем в 200 российских образовательных учреждениях.

Для участия приглашаются студенты, преподаватели, профессора, руководители учебных заведений и инженеры ведущих промышленных предприятий. Зарегистрироваться на конференцию можно по телефону, по электронной почте или на сайте ni.com/russia.
Доклады принимаются до 5 ноября, а последний срок регистрации участников и посетителей — 18 ноября 2008 г.

Компания National Instruments помогает в предоставлении места проживания на время конференции.

По всем вопросам можно обращаться по телефону +7 (495) 783 6851 или по электронной почте — info.russia@ni.com.


О компании:  National Instruments

Возврат к списку


Материалы по теме:

Обзоры и анонсы выставок
Энциклопедия измерений
Свежий номер
№ 4 Август 2018
КИПиС 2018 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
15.08.1892
День рождения