EN
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(574)
Новости Anritsu(121)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(666)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(96)
Новости Rohde & Schwarz(558)
Новости Tektronix(225)
Новости Texas Instruments(23)
Новости Yokogawa(132)
Новости Росстандарта(154)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Информация
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель

Китайские специалисты познакомились с основами российской метрологии

Китайские специалисты познакомились с основами российской метрологии

12.11.2016

В октябре этого года ВНИИМС принял делегацию специалистов в области стандартизации и метрологии автономного округа Гуаньси, Китай.

В состав китайской делегации вошли руководители и сотрудники Бюро по надзору за качеством и технологиями, Академии метрологии и инспекции качества, института инспекции специального оборудования и исследований, школы качества и технического инжиниринга округа Гуаньси.

Принимающая сторона была представлена руководством ВНИИМС и ведущими специалистами института.

Александр Кузин, директор ВНИИМС и Чен Хонки, генеральный директор Бюро по надзору за качеством и технологиями округа Гуаньси, подтвердили информационно-ознакомительный формат встречи и список вопросов для дальнейшего обсуждения.

Китайские специалисты ознакомились с основными задачами и направлениями деятельности российских метрологических организаций, принципами и механизмами управления в сфере метрологического обеспечения.

По окончании дискуссии стороны отметили необходимость продолжения взаимодействия в виде новых деловых и научных форматов.

www.vniims.ru



Возврат к списку


Материалы по теме:

Читайте бесплатно
№ 4 Декабрь 2021
КИПиС 2021 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
20.04.1904
Родился создатель одного из первых электромеханических вычислительных устройств
Стибиц Джордж
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.