English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(564)
Новости Anritsu(119)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(652)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(94)
Новости Rohde & Schwarz(549)
Новости Tektronix(222)
Новости Texas Instruments(22)
Новости Yokogawa(125)
Новости Росстандарта(149)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

Новости за неделю

25.09.2021 | 8
Курс повышения квалификации «Поверка и калибровка средств измерений параметров вибрации и удара» Обучение пройдет с 08 по 20 ноября 2021 г. и предназначено для работников метрологических служб, фБУ ЦСМ и метрологических институтов, сотрудников технологических отделов, ОТК и служб качества.

24.09.2021 | 36
XIX Национальная конференция по искусственному интеллекту (КИИ-2021) Конференция состоится с 11 по 16 октября 2021 г. в г. Таганрог (Ростовская область). Она проводится Российской ассоциацией искусственного интеллекта (РАИИ) совместно с Федеральным исследовательским центром «Информатика и управление» РАН (ФИЦ ИУ РАН), Московским физико-техническим институтом (национальным исследовательским университетом) (МФТИ) и Южным федеральным университетом (ЮФУ).

23.09.2021 | 35
Лаборатория неразрушающего контроля Омского ЦСМ третий год успешно проводит диагностику промышленных объектов Лаборатория неразрушающего контроля Омского ЦСМ существенно расширила сферу деятельности, опираясь на ответственность, высокую квалификацию и опыт специалистов, а также имея всё необходимое оборудование.

19.09.2021 | 49
Обучение по программе «Дефектоскопия (ультразвуковой, радиационный, вихретоковый, магнитный методы контроля, контроль проникающими веществами, визуальный и измерительный контроль)» С 10 по 22 октября 2021 г. Академией стандартизации, метрологии и сертификации будет проводиться обучение по программе «Дефектоскопия (ультразвуковой, радиационный, вихретоковый, магнитный методы контроля, контроль проникающими веществами, визуальный и измерительный контроль)». На занятиях будут обсуждаться и анализироваться конкретные ситуации и производственные задачи, а также возможные схемы контроля различных объектов и сварных соединений.

22.09.2021 | 44
Tektronix представляет систему параметрического тестирования серии S530 с ПО KTE V7.1 для ускорения производства полупроводниковых приборов Новое программное обеспечение KTE V7.1 для системы параметрического тестирования Keithley серии S530, позволяет ускорить производство полупроводниковых приборов, чтобы удовлетворять возрастающие потребности мирового рынка.

21.09.2021 | 50
Tektronix представляет новые функции ПО CalWeb® для управления парком приборов Версия нового поколения упрощает управление парком контрольно-измерительных приборов в процессе их калибровки и ремонта

Свежий номер
№ 2 Июнь 2021
КИПиС 2021 № 2
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
29.09.1901
День рождения
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.