English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(431)
Новости Anritsu(96)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(71)
Новости Keysight Technologies(513)
Новости Metrel(6)
Новости National Instruments(248)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(58)
Новости Rohde & Schwarz(390)
Новости Tektronix(182)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(70)
Новости Росстандарта(95)
AKTAKOM
Anritsu
Fluke
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Отзывы участников семинаров

Первый раз на Вашем семинаре. Можно сказать, впечатление превзошло ожидания. Понравилось, что, в отличие от других подобных мероприятий, не было злоупотребления специальными терминами. Когда знаком с продуктами по-наслышке, то чувствуешь себя в такой ситуации неуютно: слова умные, а о чем речь — непонятно. А тут доступный язык, показали продукцию именно пользователю, который пришел кое-что присмотреть, а не за новыми словами...

Семинар по осциллографии был полезен для меня. Мне понравилась возможность сравнить осциллографы с разными возможностями под руководством опытных специалистов. Темы тренингов также были интересными для меня, поскольку решались задачи, с которыми я не сталкиваюсь в процессе деятельности...


Свежий номер
№ 5 Октябрь 2017
КИПиС 2017 № 5
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
22.11.1904
Родился французский физик