English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(571)
Новости Anritsu(120)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(656)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(96)
Новости Rohde & Schwarz(549)
Новости Tektronix(225)
Новости Texas Instruments(22)
Новости Yokogawa(129)
Новости Росстандарта(150)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Статьи КИПиС


Автор(ы):  Афонская Т.Д.Афонский А.А.
Номер журнала:  КИПиС 2006 № 5
С 8 по 10 августа 2006 года в г. Остин (США), где располагается головной офис известной компании National Instruments (www.ni.com), проходила 12-я ежегодная всемирная конференция по виртуальным инструментам NI Week-2006.

Номер журнала:  КИПиС 2006 № 5
С 19 по 21 сентября 2006 года в Москве в Экспоцентре на Красной Пресне успешно прошла 4-я международная выставка по электронике, оборудованию, компонентам и технологиям «ChipEXPO-2006».

Автор(ы):  Зеленкова Е.Г.
Номер журнала:  КИПиС 2006 № 5
С 20 по 22 сентября 2006 года в Спорткомплексе «Олимпийский» прошла 3-я Международная выставка испытательного оборудования, систем и технологий авиационно-космической промышленности «Aerospace Testing Russia-2006».

Автор(ы):  Уткин А.Ю.
Номер журнала:  КИПиС 2006 № 3
С 10 по 13 мая в Москве, в Выставочном Комплексе на Красной Пресне, состоялась 18-я Международная выставка систем связи, средств телекоммуникации, компьютеров и оргтехники «Связь-Экспокомм-2006».

Автор(ы):  Лапшина Т.В.
Номер журнала:  КИПиС 2006 № 3
С 16 по 19 мая 2006 года в Москве, в СК «Олимпийский», проходила 7-я Международная выставка MERATEK-2006 «Измерительные приборы и автоматизация». Выставка стала хорошей площадкой для общения деловых кругов, своеобразным индикатором эффективности развития российского приборостроения и расширения международных связей.

Автор(ы):  Уткин А.Ю.
Номер журнала:  КИПиС 2006 № 3
С 25 по 28 апреля в МВЦ «Крокус Экспо» в Москве с успехом прошли 9-я Международная специализированная выставка электронных компонентов и технологического оборудования «ЭкспоЭлектроника» и 4-я Международная специализированная выставка материалов и оборудования для производства изделий электронной и электротехнической промышленности «ЭлектронТехЭкспо».



При использовании материалов журнала «Контрольно-измерительные приборы и системы» ссылка на сайт www.kipis.ru обязательна.

Для просмотра файлов PDF может понадобиться Adobe Reader. Получить Adobe Reader бесплатно можно здесь.

Свежий номер
№ 3 Сентябрь 2021
КИПиС 2021 № 3
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
27.11.1701
день рождения
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.