EN
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(574)
Новости Anritsu(121)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(666)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(96)
Новости Rohde & Schwarz(558)
Новости Tektronix(225)
Новости Texas Instruments(23)
Новости Yokogawa(132)
Новости Росстандарта(154)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

Статьи КИПиС


Номер журнала: КИПиС 2014 № 1 22 января в офисе компании Agilent Technologies прошло очередное интересное пресс-мероприятие, на котором были освещены самые свежие события из жизни компании, и представлены планы на будущее. Генеральный директор российского представительства компании, Смирнова Галина Владимировна, поприветствовав гостей, рассказала, какие изменения произошли с компанией за последнее время, что им предшествовало, а главное, какие перспективы откроются перед организацией уже в этом году.
Номер журнала: КИПиС 2014 № 1 28-29 ноября 2013 года в Конгресс-центре МТУСИ прошла двенадцатая международная научно-практическая конференция «NIDays-2013», на которую зарегистрировались более 700 руководителей предприятий, инженеров, профессоров, преподавателей и студентов из более чем 50 городов России, Казахстана, Армении, Грузии, Латвии, Молдовы, Украины и Белоруссии. На секциях конференции, посвященных радиотехнике и электронике, стендовым испытаниям и многоканальным системам сбора данных, промышленным системам мониторинга и АСУ ТП, лабораторным практикумам и учебным стендам, автоматизации научного эксперимента было представлено более 150 докладов.
Номер журнала: КИПиС 2014 № 1 29 января в рамках выставки DesignCon 2014 прошла церемония награждения победителей престижного конкурса Best in Test, который ежегодно проводится журналом Test & Measurement World, чтобы отметить разработки, представляющие собой наибольшую ценность для контрольно-измерительной индустрии. Награждение прошло в выставочном центре Santa Clara Convention Center (Санта-Клара, штат Калифорния, США).
В этом году, впрочем, как и всегда, претендентов на звание лучшего из лучших было очень много. Их основные направления различались, оборудование было специально разработано для определённых областей промышленности, и, тем не менее, их объединяло одно — стремление стать победителем и завоевать всемирное признание.
Номер журнала: КИПиС 2013 № 5 19 сентября мировой лидер в области измерительной техники компания Agilent Technologies провела пресс-ланч, посвящённый современным контрольно- измерительным решениям Agilent. У компании готово к анонсу сразу несколько новейших решений в области ВЧ/СВЧ и цифровых измерений. В целях подробного представления всех их преимуществ было организовано данное пресс- мероприятие, которое прошло в отеле Swissotel Красные холмы.
Номер журнала: КИПиС 2012 № 5 30 августа компания Agilent Technologies провела очередное замечательное мероприятие — пресс-ланч в отеле Swissotel Красные Холмы. Компания регулярно организовывает всевозможные тренинги и семинары, посвящённые самым разным областям измерений. Стремление как можно больше рассказать о своих разработках очень характеризует компанию и только подтверждает её статус мирового лидера в области измерительной техники. Так, на страницах нашего июньского номера публиковалась заметка о семинаре Agilent по осциллографии. В этот раз главной темой мероприятия стали решения Agilent Technologies для анализа и для тестирования беспроводных сетей последнего поколения LTE/LTEAdvanced. На этом же пресс-ланче были также анонсированы 14 новых моделей комбинированных СВЧ-анализаторов.


При использовании материалов журнала «Контрольно-измерительные приборы и системы» ссылка на сайт www.kipis.ru обязательна.

Для просмотра файлов PDF может понадобиться Adobe Reader. Получить Adobe Reader бесплатно можно здесь.

Читайте бесплатно
№ 4 Декабрь 2021
КИПиС 2021 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.