English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(566)
Новости Anritsu(119)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(654)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(94)
Новости Rohde & Schwarz(549)
Новости Tektronix(222)
Новости Texas Instruments(22)
Новости Yokogawa(125)
Новости Росстандарта(149)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

КИПиС 2008 № 3

КИПиС 2008 № 3
Год: 2008
Номер: 3
Месяц: Июнь
Тема номера: Метрология
Содержание
Новости от АКТАКОМ, Agilent Technologies, Rohde & Schwarz, National Instruments, Tektronix
Конкурс «Лучший отечественный измерительный прибор-2008»
Новости из Ростехрегулирования
Новые эталоны Российской Федерации. Интервью начальника Управления метрологии Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии В.М. Лахова журналу «Контрольно-измерительные приборы и системы»
Олимпийские игры невозможны без измерений
Калибраторы серии КС — переносная поверочная лаборатория, удовлетворяющая требованиям ГОСТ Р 8.624-2006
Математическая теория измерительных задач
Tektronix уделит больше внимания российскому рынку. Интервью Вице-президента по маркетингу компании Tektronix г-на Мартина Этерингтона (Martyn Etherington)
Новые осциллографы Tektronix DPO3000
Преимущества технологии IR-Fusion™
Удобное программное обеспечение упрощает измерение электромагнитных помех

Назад в раздел
Свежий номер
№ 3 Сентябрь 2021
КИПиС 2021 № 3
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
20.10.1891
Родился английский физик, известный за открытие нейтрона и фотоядерной реакции, лауреат Нобелевской премии по физике 1935 года
Джеймс Чедвик
20.10.1902
День рождения разработчика МЭСМ
Лебедев Сергей Алексеевич
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.