English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(566)
Новости Anritsu(119)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(654)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(94)
Новости Rohde & Schwarz(549)
Новости Tektronix(222)
Новости Texas Instruments(22)
Новости Yokogawa(125)
Новости Росстандарта(149)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

Электронные измерения в нанотехнологиях и микроэлектронике

Корзина 0 позиций на сумму 0,00 руб.
Электронные измерения в нанотехнологиях и микроэлектронике Автор(ы): Афонский А.А. / Дьяконов В.П.
Год выпуска: 2011
Издатель: ДМК Пресс
Число страниц: 688
ISBN: 978-5-94074-626-3

Розничная цена:   899,00 руб.

Купить   В корзину

Первая в России книга по самым современным электронным электро- и радиоизмерениям и измерительным приборам, применяемым в научных исследованиях, тестировании и испытании устройств и систем микроэлектроники и нанотехнологий. Впервые подробно описаны средства измерений, применяемые в условиях крупносерийного микроэлектронного производства, и приборы ведущих в их разработке и производстве фирм: AKTAKOM, Keithley, Tektronix, Agilent Technologies, R&S и др. Особое внимание уделено анализу и генерации тестовых сигналов, измерению их параметров в области малых и сверхмалых времен, измерению сверхмалых токов и напряжений, анализу импеданса и иммитанса цепей, измерениям статических и динамических характеристик полупроводниковых приборов и интегральных микросхем и др. Является самым крупным обзором современных зарубежных и отечественных измерительных приборов на рынке России и мира.Для инженеров, научных работников, аспирантов, преподавателей и студентов вузов и университетов технического и классического типов.

Для инженеров, научных работников, аспирантов, преподавателей и студентов вузов и университетов технического и классического типов.


Назад в раздел
Свежий номер
№ 3 Сентябрь 2021
КИПиС 2021 № 3
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
20.10.1891
Родился английский физик, известный за открытие нейтрона и фотоядерной реакции, лауреат Нобелевской премии по физике 1935 года
20.10.1902
День рождения разработчика МЭСМ
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.