EN
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(574)
Новости Anritsu(121)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(666)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(96)
Новости Rohde & Schwarz(558)
Новости Tektronix(225)
Новости Texas Instruments(23)
Новости Yokogawa(132)
Новости Росстандарта(154)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

Новости компаний

RSS

28.09.2016 | 1786
NI улучшает адаптируемость программно-технического моделирования (HIL) в системах тестирования с помощью готовых к применению симуляторов Новые симуляторы для программно-технического моделирования (HIL Simulators) уменьшают риски разработки и тестирования без ухудшения гибкости, требуемой при создании открытых коммерческих платформ.
19.09.2016 | 1480
NI анонсирует первый в мире шаблон для систем Massive MIMO для ускорения инноваций в прототипировании связи 5G NI, разработчик систем на основе платформы, которые позволяют инженерам и ученым решать сложнейшие инженерные задачи, анонсирует первый в мире программно-аппаратный шаблон для приложений MIMO - MIMO Application Framework.
14.09.2016 | 1644
Вебинар "Основы создания систем технического зрения в LabVIEW" Компания National Instruments приглашает принять участие в вебинаре "Основы создания систем технического зрения в LabVIEW", который пройдёт 16 сентября 2016. Данный вебинар предназначен для инженеров широкого профиля, занимающихся системами технического зрения и обработкой изображений.
07.09.2016 | 1645
Технический семинар «Технологии National Instruments для автоматизации тестирования радиоэлектронной аппаратуры и электронных компонентов» Компания National Instruments приглашает Вас принять участие в семинаре, посвящённом разработке автоматизированных систем тестирования радиоэлектронной аппаратуры и электронных компонентов. Мероприятие пройдёт в Москве 15 сентября.
04.08.2016 | 1663
NI анонсирует самый точный источник-измеритель в формате PXI National Instruments, производитель систем на основе платформы, позволяющих инженерам и ученым решать важнейшие мировые инженерные задачи, – анонсирует источник-измеритель питания (SMU) NI PXIe-4135 с чувствительностью измерений 10 фА и выходом по напряжению до 200 В. Инженеры могут использовать новый NI PXIe-4135 для измерений сигналов малых токов, а также пользоваться преимуществами высокой плотности каналов, высокой скоростью тестирования и гибкости источников-измерителей NI для таких приложений как параметрические тесты на кремниевой пластине, в исследованиях материалов, характеризации датчиков и микросхем с малыми токами.
28.07.2016 | 1660
Сотрудничество NI и HPE по созданию нового решения - доступной системы хранения данных Компании NI и HPE (Hewlett Packard Enterprise) представили результат своего сотрудничества по созданию доступной системы хранения данных, основанной на решениях NI DataFinder Server Edition и HPE Moonshot Systems. В рамках этого сотрудничества была создана доступная система хранения данных лучшей в своем классе для более эффективного решения технических задач и принятия решений с использованием баз данных, получаемых с датчиков.
08.07.2016 | 1711
NI представляет первое в мире программно-определяемое радио на волнах миллиметрового диапазона (mmWave), предназначенное для ускорения исследований 5G NI, производитель платформенных систем, помогающих инженерам и ученым решать крупнейшие инженерные задачи, анонсировал первое в мире программно-определяемое радио (SDR) для миллиметрового диапазона mmWave. Новая система NI mmWave Transceiver System является приемопередатчиком, способным передавать и/или получать широкополосный сигнал с беспрецедентной полосой пропускания реального времени в 2 ГГц, покрывающей спектр в E-band, 71-76 ГГц.
20.06.2016 | 1979
NI анонсирует самый точный цифровой мультиметр на 7½ знаков Компания NI, разработчик систем, позволяющих инженерам и ученым решать самые сложные инженерные задачи сегодняшнего дня, представила NI PXIe-4081 – цифровой мультимтер с разрешением 7½ знаков и высокопроизводительный изолированный осциллограф 1.8 МВыб/с. NI PXIe-4081 стал первым мультиметром в формате PXI Express.
17.05.2016 | 1708
NI продемонстрирует умные решения для проектирования и тестирования СВЧ систем на IMS2016 NI производитель платформенных систем, помогающих инженерам и ученым решать крупнейшие инженерные задачи, анонсирует, что на выставке IEEE MTT-S International Microwave Symposium (IMS2016), которая пройдет в Сан-Франциско, Booth 1529, с 22 по 27 мая, продемонстрирует новое, «умное» решение для тестирования и СВЧ проектирования, предназначенное для всего жизненного цикла продукта.
25.04.2016 | 1571
Семинар «Измерения, управление, моделирование Технологическая платформа National Instruments для стендовых испытаний и сбора данных» Семинар пройдёт 28 апреля 2016 в Москве в Конгресс-центре МТУСИ. В программе семинара: технологии NI для задач сбора данных, управления и моделирования; современные подходы для создания информационно-измерительных систем и многие другие темы.

Читайте бесплатно
№ 4 Декабрь 2021
КИПиС 2021 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.