EN
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(574)
Новости Anritsu(121)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(666)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(96)
Новости Rohde & Schwarz(558)
Новости Tektronix(225)
Новости Texas Instruments(23)
Новости Yokogawa(132)
Новости Росстандарта(154)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Информация
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель

Новости компаний

RSS

15.03.2016 | 2093
NI анонсирует гибкий испытательный стенд для LTE-U/LAA NI (Nasdaq: NATI), производитель систем, основанных на платформе и позволяющих инженерам и ученым решать важнейшие инженерные задачи, объявила о выпуске испытательного стенда для экспериментов, прототипирования и тестирования новых беспроводных технологий доступа LTE Unlicensed (LTE-U) и/или License Assisted Access (LAA).
16.02.2016 | 2148
NI анонсирует выход расширенной версии All-in-One прибора VirtualBench NI (Nasdaq: NATI), производитель платформ и систем, позволяющих инженерам и ученым решать сложнейшие инженерные задачи, анонсировала выход новой высокопроизводительной модели VirtualBench. Этот комплексный прибор объединяет в себе комбинированный осциллограф, генератор сигналов, цифровой мультиметр, программируемый источник питания постоянного тока и цифровые линии ввода-вывода.
30.12.2015 | 2159
National Instruments – официальный партнер IEEE Sibcon-2016 Компания National Instruments стала официальным партнером IEEE-Сибирской конференции, посвящённой современным достижениям в области разработки и создания систем управления и связи, которая проводится с 12 по 14 мая 2016 года в г. Москва, Россия.
22.12.2015 | 1923
NI запускает следующее поколение систем контроля, оптимизированное для промышленных задач класса Интернет вещей (IoT) NI, поставщик систем на базе платформ, которые позволяют инженерам и ученым решить величайшие мировые инженерные задачи, объявила сегодня о выходе нового оборудования класса встраиваемых систем на основе открытой и гибкой архитектуры реконфигурируемого ввода-вывода (RIO).
19.11.2015 | 2183
Третий Уральский форум пользователей технологий National Instruments "Практические решения для бережливого производства" Форум пройдёт 12 декабря 2015 в Екатеринбурге. Посещение форума будет полезно специалистам предприятий, занимающихся электрическими измерениями, контролем качества продукции, разработкой радиоэлектроники и АСУТП, научными исследованиями.
12.11.2015 | 1750
Компания National Instruments приглашает принять участие в вебинаре «Основы взаимодействия с устройствами в LabVIEW при помощи программной архитектуры VISA» Вебинар пройдёт уже завтра, 13 ноября, 11.00-12.30 (Мск.). Данный вебинар предназначен для инженеров, занимающихся программированием интерфейсов ввода-вывода и управляющих измерительными приборами с персонального компьютера.
09.11.2015 | 1837
Конференция NIDays 2015 XIV международная конференция компании National Instruments – NIDays – 2015 пройдёт 27 ноября в Москве, в Конгресс-центре МТУСИ по адресу ул. Авиамоторная д. 8a.
Конференция посвящена современным измерительным и информационным технологиям для построения автоматизированных систем тестирования, управления и мониторинга.
23.10.2015 | 1914
NI помогает инженерам решать задачи анализа большого объма данных с новыми контроллерами CompactDAQ и программным обеспечением DIAdem 2015 Усовершенствования платформы CompactDAQ включают интерфейс USB 3.0 и интегрированный четырехъядерный процессор Atom от компании Intel. В сочетании с программным обеспечением DIAdem 2015 и DataFinder Server Edition 2015 помогают создать умные решения по управлению измерениями и передаче данных.
06.10.2015 | 1871
Семинар «Технологии National Instruments для ускорения исследований и автоматизации тестирования в радиотехнике» Семинар состоится 9 октября в г. Томске. В программе мероприятия: платформа National Instruments PXI; платформа NI PXI для автоматизации научных исследований; системы PXI для автоматизации тестирования в радиоэлектронной промышленности; технологии National Instruments для подготовки специалистов в ВУЗах, техникумах, колледжах.
23.09.2015 | 1926
NI снижает стоимость производственного тестирования беспроводных устройств NI, производитель систем на базе платформы, позволяющих инженерам и ученым решать величайшие мировые технические проблемы, объявила о выходе системы тестирования беспроводных устройств Wireless Test System (WTS), - решения, которое резко снижает стоимость производственного тестирования больших объемов. Хотя сложность тестирования постоянно возрастает, компании могут уверенно сократить расходы на испытания и приумножить пропускную способность на производственной площадке с системой, оптимизированной для скорости измерений и параллельного тестирования.

Читайте бесплатно
№ 4 Декабрь 2021
КИПиС 2021 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.