EN
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(574)
Новости Anritsu(121)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(666)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(96)
Новости Rohde & Schwarz(558)
Новости Tektronix(225)
Новости Texas Instruments(23)
Новости Yokogawa(132)
Новости Росстандарта(154)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Новости компаний

RSS

15.03.2016 | 1873
NI анонсирует гибкий испытательный стенд для LTE-U/LAA NI (Nasdaq: NATI), производитель систем, основанных на платформе и позволяющих инженерам и ученым решать важнейшие инженерные задачи, объявила о выпуске испытательного стенда для экспериментов, прототипирования и тестирования новых беспроводных технологий доступа LTE Unlicensed (LTE-U) и/или License Assisted Access (LAA).
16.02.2016 | 1914
NI анонсирует выход расширенной версии All-in-One прибора VirtualBench NI (Nasdaq: NATI), производитель платформ и систем, позволяющих инженерам и ученым решать сложнейшие инженерные задачи, анонсировала выход новой высокопроизводительной модели VirtualBench. Этот комплексный прибор объединяет в себе комбинированный осциллограф, генератор сигналов, цифровой мультиметр, программируемый источник питания постоянного тока и цифровые линии ввода-вывода.
30.12.2015 | 1967
National Instruments – официальный партнер IEEE Sibcon-2016 Компания National Instruments стала официальным партнером IEEE-Сибирской конференции, посвящённой современным достижениям в области разработки и создания систем управления и связи, которая проводится с 12 по 14 мая 2016 года в г. Москва, Россия.
22.12.2015 | 1700
NI запускает следующее поколение систем контроля, оптимизированное для промышленных задач класса Интернет вещей (IoT) NI, поставщик систем на базе платформ, которые позволяют инженерам и ученым решить величайшие мировые инженерные задачи, объявила сегодня о выходе нового оборудования класса встраиваемых систем на основе открытой и гибкой архитектуры реконфигурируемого ввода-вывода (RIO).
19.11.2015 | 1976
Третий Уральский форум пользователей технологий National Instruments "Практические решения для бережливого производства" Форум пройдёт 12 декабря 2015 в Екатеринбурге. Посещение форума будет полезно специалистам предприятий, занимающихся электрическими измерениями, контролем качества продукции, разработкой радиоэлектроники и АСУТП, научными исследованиями.
12.11.2015 | 1546
Компания National Instruments приглашает принять участие в вебинаре «Основы взаимодействия с устройствами в LabVIEW при помощи программной архитектуры VISA» Вебинар пройдёт уже завтра, 13 ноября, 11.00-12.30 (Мск.). Данный вебинар предназначен для инженеров, занимающихся программированием интерфейсов ввода-вывода и управляющих измерительными приборами с персонального компьютера.
09.11.2015 | 1638
Конференция NIDays 2015 XIV международная конференция компании National Instruments – NIDays – 2015 пройдёт 27 ноября в Москве, в Конгресс-центре МТУСИ по адресу ул. Авиамоторная д. 8a.
Конференция посвящена современным измерительным и информационным технологиям для построения автоматизированных систем тестирования, управления и мониторинга.
23.10.2015 | 1704
NI помогает инженерам решать задачи анализа большого объма данных с новыми контроллерами CompactDAQ и программным обеспечением DIAdem 2015 Усовершенствования платформы CompactDAQ включают интерфейс USB 3.0 и интегрированный четырехъядерный процессор Atom от компании Intel. В сочетании с программным обеспечением DIAdem 2015 и DataFinder Server Edition 2015 помогают создать умные решения по управлению измерениями и передаче данных.
06.10.2015 | 1659
Семинар «Технологии National Instruments для ускорения исследований и автоматизации тестирования в радиотехнике» Семинар состоится 9 октября в г. Томске. В программе мероприятия: платформа National Instruments PXI; платформа NI PXI для автоматизации научных исследований; системы PXI для автоматизации тестирования в радиоэлектронной промышленности; технологии National Instruments для подготовки специалистов в ВУЗах, техникумах, колледжах.
23.09.2015 | 1662
NI снижает стоимость производственного тестирования беспроводных устройств NI, производитель систем на базе платформы, позволяющих инженерам и ученым решать величайшие мировые технические проблемы, объявила о выходе системы тестирования беспроводных устройств Wireless Test System (WTS), - решения, которое резко снижает стоимость производственного тестирования больших объемов. Хотя сложность тестирования постоянно возрастает, компании могут уверенно сократить расходы на испытания и приумножить пропускную способность на производственной площадке с системой, оптимизированной для скорости измерений и параллельного тестирования.

Читайте бесплатно
№ 4 Декабрь 2021
КИПиС 2021 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
26.06.1895
День рождения ученого, получившего Нобелевскую премию по физике
26.06.1894
День рождения ученого, открывшего сверхтекучесть
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.