EN
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(574)
Новости Anritsu(121)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(666)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(96)
Новости Rohde & Schwarz(558)
Новости Tektronix(225)
Новости Texas Instruments(23)
Новости Yokogawa(132)
Новости Росстандарта(154)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Информация
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель

Новости компаний

RSS

20.05.2008 | 3385
Академический форум в рамках конференции NIWeek 2008 Вот уже более 5 лет компания National Instruments проводит активную деятельность в рамках своей Образовательной программы. 4 августа 2008 года в рамках международной конференции NIWeek 2008 в г. Остин (штат Техас) пройдет специальный академический форум (Academic Forum), который будет посвящен исключительно образовательной сфере и применению в ней самых современных измерительных и компьютерных технологий.
08.05.2008 | 3227
Новая серия столов АКТАКОМ с антистатической столешницей: невидимый «киллер» обезврежен! ESD-защищенная зона от АКТАКОМ - это, прежде всего, рабочий стол с антистатической столешницей высокого качества, соответствующего международному стандарту IEC 61340-5-1/2...
07.05.2008 | 3901
Обновление в линейке цифровых осциллографов Tektronix Поистине народная линейка цифровых осциллографов Tektronix TDS3000 пережила очередное обновление. Встречайте новую ее модификацию: осциллографы TDS3000C!
04.05.2008 | 6657
NI LabVIEW SignalExpress Tektronix Edition 2.5 теперь поддерживает новые осциллографы Tektronix DPO3000 компания National Instruments объявила о поддержке новых недорогих осциллографов Tektronix последней версией программного обеспечения LabVIEW SignalExpress Tektronix Edition. Напомним, что LabVIEW SignalExpress Tektronix Edition – это программный пакет для интерактивных измерений на базе ПК, который позволяет быстро собирать, обрабатывать данные и представлять результаты, совершенно не прибегая к процедурам программирования. Используя LabVIEW SignalExpress Tektronix Edition 2.5, вы можете управлять осциллографами недорогой линейки Tekronix, включающую новые цифровые люминесцентные осциллографы Tektronix DPO3000 и TDS3000C, а также осциллографы для смешанных сигналов MSO4000, со своего компьютера с помощью простой в использовании среды.
04.05.2008 | 3399
С 22 по 24 апреля 2008 года в деловом центре Кимберли-Лэнд прошел ежегодный семинар компании Agilent Technologies. Это ставшее уже традиционным мероприятие посетили более 250 специалистов из ведущих научно-исследовательских центров, конструкторских бюро, ВУЗов. Традиционно высокий интерес к семинару проявили представители государственных структур и специалисты из оборонной и аэрокосмической отраслей, а на сессию, посвященную контрольно-измерительному оборудованию для телекоммуникационной отрасли, своих представителей направили все ведущие операторы мобильной и проводной связи.
03.05.2008 | 6324
Теперь NI LabVIEW поддерживает ведущие в отрасли микроконтроллеры ARM в качестве целевой платформы компании National Instruments и ARM объявили о выходе нового модуля LabVIEW для ARM-микроконтроллеров NI LabVIEW Embedded Module for ARM Microcontrollers, который является расширением платформы графического программирования LabVIEW и позволяет использовать в качестве целевых платформ следующие семейства микроконтроллеров: ARM 7™, ARM 9™ и Cortex™-M3. Представленный модуль – первый плод сотрудничества компаний, он позволяет использовать LabVIEW для программирования высокопроизводительных ARM-микроконтроллеров.
30.04.2008 | 3678
Компания Agilent Technologies объявила о выпуске решения для внутрисхемного тестирования (ICT) устройств с ограниченным доступом, позволяющего обойтись без физических контрольных точек и обладающего преимуществами, которые не может предложить традиционный метод тестирования VTEP. Являясь частью расширенного тестового комплекта Agilent’s VTEP v2.0, технология расширенного покрытия Agilent Cover-Extend представляет собой комбинацию двух методов тестирования, широко применяющихся в электронной промышленности: периферийное сканирование (Boundary Scan) и безвекторное тестирование VTEP.
29.04.2008 | 3686
На прошедшем в Японии мероприятии DisplayPort PlugTest компания Agilent Technologies продемонстрировала первое полностью автоматическое решение для проверки совместимости на физическом уровне приемников DisplayPort, удовлетворяющее требованиям спецификаций тестирования совместимости DisplayPort. В феврале решение для тестирования источников DisplayPort от компании Agilent было одобрено в качестве первого решения для проверки совместимости источников VESA DisplayPort.
29.04.2008 | 3552
На выставке CTIA Wireless 2008, проходившей в Лас-Вегасе, компании Agilent Technologies и NextWave Wireless, глобальные поставщики мобильных мультимедийных решений и широкополосных беспроводных технологий, объявили о том, что NextWave будет использовать измерительное решение компании Agilent для беспроводных сетей для ускорения внедрения устройств Mobile WiMAX на основе чипсетов NextWave.
28.04.2008 | 3590
Новинка! Токовые клещи-ваттметр АТК-2209 Актаком В семействе токовых клещей АКТАКОМ появилась новая модель! Этот многофункциональный прибор позволяет измерять значение активной, реактивной и полной мощности в трех- и четырехпроводных трехфазных цепях, трехфазных цепях с симметричной нагрузкой, двух- и трехпроводных однофазных цепях...

Читайте бесплатно
№ 4 Декабрь 2021
КИПиС 2021 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.