EN
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(574)
Новости Anritsu(121)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(666)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(96)
Новости Rohde & Schwarz(558)
Новости Tektronix(225)
Новости Texas Instruments(23)
Новости Yokogawa(132)
Новости Росстандарта(154)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Информация
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель

Обзоры и анонсы выставок

Прошедшие выставки


Autotestcon 2010 Дата открытия:  13.09.2010
Дата закрытия:  16.09.2010
Место проведения:  Орландо, Флорида, США
Организаторы:  IEEE
Конференция Autotestcon посвящена системам автоматического тестирования для американских военных систем, проводится ежегодно с 1965 года. Заглавная тема конференции: "Технологии систем поддержки".

Electronica India & Productronica India 2010 Дата открытия:  07.09.2010
Дата закрытия:  10.09.2010
Место проведения:  Бангалорский Международный Выставочный Центр (BIEC), Бангалор, Индия
Electronica India и Productronica India, ранее известные как electronicIndia, являются наиболее важными событиями для электронной промышленности в Индии и Южной Азии. Electronica India - ведущая специализированная выставка электронных компонентов, узлов и материалов. Productronica India является платформой для инновационных технологий в производстве, необходимость в которых непрерывно возрастает в связи с тем, что Индия становится важной базой для производства электроники. С сентября 2008 года выставки проводятся в новом месте, в индийской столице высоких технологий Бангалор, в Бангалорском Международном Выставочном Центре (BIEC).

NIWeek 2010 Дата открытия:  03.08.2010
Дата закрытия:  05.08.2010
Место проведения:  Austin Convention Center, г.Остин, Техас, США
Организаторы:  National Instruments
NIWeek 2010 – 16-я Всемирная Конференция по Графическим Системам Проектирования. Компания National Instruments традиционно выступает организатором NIWeek – главного события отрасли посвященного графическим системам проектирования. Ежегодно мероприятие привлекает более 3000 ведущих инженеров, преподавателей и ученых со всего мира. Конференция начнет работу 3 августа 2010 г. в Austin Convention Center в городе Остин (штат Техас, США). В течение трех дней пройдут интерактивные технические семинары, целевые встречи на высшем уровне, практические семинары и выставки, посвященные новейшим разработкам в области проектирования, управления, автоматизации, производства и тестирования.

EMC 2010 Дата открытия:  25.07.2010
Дата закрытия:  30.07.2010
Место проведения:  Форт Лаудердаль, Флорида, США
Организаторы:  IEEE EMC Society
Международный Симпозиум по Электромагнитной совместимости проходит под эгидой IEEE EMC Society. В ходе Симпозиума пройдут обсуждения докладов по таким темам, как: измерение EMC, электромагнитные помехи в вычислительной технике, целостность сигнала, электромагнитная безопасность продукции.

Международная конференция NCSL 2010 Дата открытия:  25.07.2010
Дата закрытия:  29.07.2010
Место проведения:  Род-Айлендский конгресс-центр, Провиденс, Род-Айленд, США
Тема конференции: «Инновации 21-го века в метрологии». Любая научно-техническая деятельность связана с созданием новых и уникальных направлений для развития инноваций в измерениях. В независимости от того, работаете ли вы в коммерческих калибровочных или испытательных лабораториях, государственных метрологических институтах, организациях по аккредитации или на производстве контрольно-измерительного оборудования, Вам необходимо быть в курсе инноваций в области измерений, которые произошли или произойдут в Вашей области в 21 веке.

SEMICON West 2010 Дата открытия:  13.07.2010
Дата закрытия:  15.07.2010
Место проведения:  Сан-Франциско, Калифорния, США
SEMICON West – крупнейшее ежегодное мероприятие, призванное познакомить инженеров с инновациями в области производства микроэлектроники. Традиционно представлены разделы: Полупроводники, Фотовольтаика/солнечная энергия, Микро-электромеханические системы (MEMS), LED / твердотельное освещение, Печатная/гибкая электроника.

INTEROP 2010 (Токио) Дата открытия:  07.06.2010
Дата закрытия:  11.06.2010
Место проведения:  Токио, Япония
Interop – выставка и конференция, посвященная IT-технологиям и коммуникациям. В рамках мероприятия проводятся обучающие программы и рабочие классы по продукции ведущих компаний IT-индустрии, а также презентации оборудования для реализации и применения новейших технологий.

Sensors Expo & Conference Дата открытия:  07.06.2010
Дата закрытия:  09.06.2010
Место проведения:  Розмонт, Иллинойс, США
Выставка и конференция, предназначенная для демонстрации наиболее современных технологий и инноваций в индустрии сенсоров. Основные разделы: физические сенсоры; сенсорные сети; био-сенсоры; MEMS и нанотехнологии; измерительные приборы и элементы управления; интеллектуальные системы; интерфейс машина-машина; беспроводные сенсоры и IT-технологии.

Aerospace Testing 2010 Дата открытия:  18.05.2010
Дата закрытия:  20.05.2010
Место проведения:  Hamburg Messe, Гамбург, Германия
Выставка "Aerospace Testing" – крупнейшее мероприятие в Европе, посвященное тестированию и измерениям в аэрокосмической отрасли. Посетители выставки смогут получить профессиональную техническую консультацию по новейшим методам исследований и тестирования, узнать о наиболее точных и быстродействующих измерительных системах, а также о решениях, позволяющих увеличить эффективность производства и значительно сократить время выпуска новой продукции.

EDS 2010 Дата открытия:  11.05.2010
Дата закрытия:  13.05.2010
Место проведения:  Лас-Вегас, Невада, США
EDS - это ежегодное событие, призванное объединить основных игроков международного рынка электронной индустрии.


Будущие выставки



Читайте бесплатно
№ 4 Декабрь 2021
КИПиС 2021 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
Выставки
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.