English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(573)
Новости Anritsu(121)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(660)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(96)
Новости Rohde & Schwarz(553)
Новости Tektronix(226)
Новости Texas Instruments(22)
Новости Yokogawa(131)
Новости Росстандарта(152)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

Новости компаний

RSS

15.03.2016 | 1787
NI анонсирует гибкий испытательный стенд для LTE-U/LAA NI (Nasdaq: NATI), производитель систем, основанных на платформе и позволяющих инженерам и ученым решать важнейшие инженерные задачи, объявила о выпуске испытательного стенда для экспериментов, прототипирования и тестирования новых беспроводных технологий доступа LTE Unlicensed (LTE-U) и/или License Assisted Access (LAA).

16.02.2016 | 1835
NI анонсирует выход расширенной версии All-in-One прибора VirtualBench NI (Nasdaq: NATI), производитель платформ и систем, позволяющих инженерам и ученым решать сложнейшие инженерные задачи, анонсировала выход новой высокопроизводительной модели VirtualBench. Этот комплексный прибор объединяет в себе комбинированный осциллограф, генератор сигналов, цифровой мультиметр, программируемый источник питания постоянного тока и цифровые линии ввода-вывода.

30.12.2015 | 1886
National Instruments – официальный партнер IEEE Sibcon-2016 Компания National Instruments стала официальным партнером IEEE-Сибирской конференции, посвящённой современным достижениям в области разработки и создания систем управления и связи, которая проводится с 12 по 14 мая 2016 года в г. Москва, Россия.

22.12.2015 | 1629
NI запускает следующее поколение систем контроля, оптимизированное для промышленных задач класса Интернет вещей (IoT) NI, поставщик систем на базе платформ, которые позволяют инженерам и ученым решить величайшие мировые инженерные задачи, объявила сегодня о выходе нового оборудования класса встраиваемых систем на основе открытой и гибкой архитектуры реконфигурируемого ввода-вывода (RIO).

19.11.2015 | 1890
Третий Уральский форум пользователей технологий National Instruments "Практические решения для бережливого производства" Форум пройдёт 12 декабря 2015 в Екатеринбурге. Посещение форума будет полезно специалистам предприятий, занимающихся электрическими измерениями, контролем качества продукции, разработкой радиоэлектроники и АСУТП, научными исследованиями.

12.11.2015 | 1481
Компания National Instruments приглашает принять участие в вебинаре «Основы взаимодействия с устройствами в LabVIEW при помощи программной архитектуры VISA» Вебинар пройдёт уже завтра, 13 ноября, 11.00-12.30 (Мск.). Данный вебинар предназначен для инженеров, занимающихся программированием интерфейсов ввода-вывода и управляющих измерительными приборами с персонального компьютера.

09.11.2015 | 1573
Конференция NIDays 2015 XIV международная конференция компании National Instruments – NIDays – 2015 пройдёт 27 ноября в Москве, в Конгресс-центре МТУСИ по адресу ул. Авиамоторная д. 8a.
Конференция посвящена современным измерительным и информационным технологиям для построения автоматизированных систем тестирования, управления и мониторинга.

23.10.2015 | 1617
NI помогает инженерам решать задачи анализа большого объма данных с новыми контроллерами CompactDAQ и программным обеспечением DIAdem 2015 Усовершенствования платформы CompactDAQ включают интерфейс USB 3.0 и интегрированный четырехъядерный процессор Atom от компании Intel. В сочетании с программным обеспечением DIAdem 2015 и DataFinder Server Edition 2015 помогают создать умные решения по управлению измерениями и передаче данных.

06.10.2015 | 1572
Семинар «Технологии National Instruments для ускорения исследований и автоматизации тестирования в радиотехнике» Семинар состоится 9 октября в г. Томске. В программе мероприятия: платформа National Instruments PXI; платформа NI PXI для автоматизации научных исследований; системы PXI для автоматизации тестирования в радиоэлектронной промышленности; технологии National Instruments для подготовки специалистов в ВУЗах, техникумах, колледжах.

23.09.2015 | 1553
NI снижает стоимость производственного тестирования беспроводных устройств NI, производитель систем на базе платформы, позволяющих инженерам и ученым решать величайшие мировые технические проблемы, объявила о выходе системы тестирования беспроводных устройств Wireless Test System (WTS), - решения, которое резко снижает стоимость производственного тестирования больших объемов. Хотя сложность тестирования постоянно возрастает, компании могут уверенно сократить расходы на испытания и приумножить пропускную способность на производственной площадке с системой, оптимизированной для скорости измерений и параллельного тестирования.


Читайте бесплатно
№ 4 Декабрь 2021
КИПиС 2021 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.