EN
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(574)
Новости Anritsu(121)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(666)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(96)
Новости Rohde & Schwarz(558)
Новости Tektronix(225)
Новости Texas Instruments(23)
Новости Yokogawa(132)
Новости Росстандарта(154)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Информация
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель

NI снижает стоимость производственного тестирования беспроводных устройств

NI снижает стоимость производственного тестирования беспроводных устройств

23.09.2015

NI, производитель систем на базе платформы, позволяющих инженерам и ученым решать величайшие мировые технические проблемы, объявила о выходе системы тестирования беспроводных устройств Wireless Test System (WTS), - решения, которое резко снижает стоимость производственного тестирования больших объемов. Хотя сложность тестирования постоянно возрастает, компании могут уверенно сократить расходы на испытания и приумножить пропускную способность на производственной площадке с системой, оптимизированной для скорости измерений и параллельного тестирования.

"Мегатренды, такие как Интернет вещей (IoT), будут подталкивать все больше устройств включать СВЧ электронику и функциональные датчики, тестировать которые традиционно было дорого. Но стоимость тестирования не должна ограничивать инновации или экономическую жизнеспособность продукта", - говорит Ольга Шапиро, менеджер по измерениям и измерительным приборам компании Frost & Sullivan. "Чтобы оставаться прибыльными в будущем, компании должны будут пересмотреть свой подход к беспроводным тестам и принять новые парадигмы. Поскольку WTS построена на проверенной в промышленности платформе PXI и опирается на опыт NI, мы ожидаем, что она окажет существенное влияние на рентабельность IoT."

WTS сочетает в себе последние достижения в оборудовании PXI и предлагает единую платформу для мультистандартного, многопортового одновременного тестирования. При использовании с гибким программным обеспечением, таким как TestStand Wireless Test Module, производители могут существенно повысить эффективность использования приборов при тестировании нескольких устройств параллельно. WTS легко интегрируется в производственную линию с готовыми к запуску тестовыми последовательностями для устройств, использующих чипсеты от таких поставщиков, как Qualcomm и Broadcom, а также интегрированным управлением тестируемыми устройствами и автоматизацией. Благодаря этим функциям, заказчики видят значительное повышение эффективности своего тестирующего оборудования и дальнейшее сокращение стоимости тестов.

"Мы протестировали несколько беспроводных технологий, начиная от Bluetooth и до Wi-Fi, GPS и сотовых сетей все с тем же оборудованием, используя NI Wireless Test System," сказал Маркус Краусс, HARMAN/Becker Automotive Systems GmbH. - "WTS и инженерно-технический опыт компании NOFFZ помогли нам значительно сократить время тестирования и время ввода наших систем тестирования в эксплуатацию."

WTS - это новейшая система от NI, построенная на оборудовании PXI и программном обеспечении LabVIEW и TestStand (см. Semiconductor Test System, выпущенную в 2014 году). С поддержкой беспроводных стандартов от LTE Advanced до 802.11ac и Bluetooth Low Energy, WTS создана для испытаний точек доступа WLAN, мобильных телефонов, информационно-развлекательных систем и других мульти-стандартных устройств, которые включают сотовую связь, беспроводные сетевые подключения и навигационные сигналы. Технологии программно-определяемого векторного трансивера NI VST в составе WTS обеспечивает превосходные ВЧ характеристики и платформу, которую можно масштабировать в соответствии с развивающимися требованиями испытаний.

Для получения более подробной информации о новой системе Wireless Test System, посетите ni.com/wts.

National Instruments
Nationa Instruments LabVIEW


О компании: NI

Возврат к списку


Материалы по теме:

Обзоры и анонсы выставок
Читайте бесплатно
№ 4 Декабрь 2021
КИПиС 2021 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.