![]() |
![]() |
|
![]() |
![]() |
Поиск по сайту
Авторизация
Подписка на рассылку
|
КИПиС 1999 № 1
Содержание
Новости от LeCroy, Yokogawa, Tektronix, Fluke, Prova Instruments Inc., Megatron, Pico Technology, Gage Applied Science, National Instruments, Prema GmbH, Burr Brown, Dallas Semiconductor Компания LeCroy - швейцарская точность измерительной техники и американская хватка в делах (В.А. Куликов) Портативные носимые мультиметры 99 (А.А. Афонский) Tektronix TX-3 - современный портативный мультиметр (И.В. Гордеев) Профессиональные портативные мультиметры TES, Tektronix, APPA. Справочный листок. Виртуальные мультиметры (Марк Новодачный) Проектирование цифровых устройств на ПЛИС фирмы Altera (С.В. Федоров, В.И. Оганов) Выставка "Экспортные возможности центра России" (Н.И. Кольский) Перспективы развития ПЛИС фирмы Altera (В.И. Оганов) Назад в раздел |
Свежий номер
События из истории измерений
|
|
|
© "Контрольно-измерительные приборы и системы" ("КИПиС"), 1996-2021. Все права защищены. Политика конфиденциальности | |