English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(549)
Новости Anritsu(117)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(637)
Новости Metrel(22)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(90)
Новости Rohde & Schwarz(530)
Новости Tektronix(217)
Новости Texas Instruments(21)
Новости Yokogawa(116)
Новости Росстандарта(143)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

Джим Курран (Jim Curran)


Книги этого автора



Статьи этого автора


Продление срока службы систем тестирования для поддержки долговременных программ

Номер журнала: КИПиС 2015 № 5

При запуске производства каждого нового изделия тратится огромное количество времени, сил и средств на выбор и интеграцию соответствующей системы тестирования. Эта система используется для проверки новых изделий, гарантируя их функционирование в соответствии с предъявляемыми требованиями, и для поддержания высокого уровня качества. Кроме того, предполагается, что система тестирования прослужит в течение всего срока реализации программы выпуска изделий. Правильно спроектированные системы тестирования помогают гарантировать высокое качество и максимальную пропускную способность.

 

Свежий номер
№ 6 Декабрь 2020
КИПиС 2020 № 6
Тема номера:
Современная измерительная техника