EN
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(574)
Новости Anritsu(121)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(666)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(96)
Новости Rohde & Schwarz(558)
Новости Tektronix(225)
Новости Texas Instruments(23)
Новости Yokogawa(132)
Новости Росстандарта(154)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Информация
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель

Джим Курран (Jim Curran)


Статьи этого автора


Продление срока службы систем тестирования для поддержки долговременных программ

Номер журнала: КИПиС 2015 № 5

При запуске производства каждого нового изделия тратится огромное количество времени, сил и средств на выбор и интеграцию соответствующей системы тестирования. Эта система используется для проверки новых изделий, гарантируя их функционирование в соответствии с предъявляемыми требованиями, и для поддержания высокого уровня качества. Кроме того, предполагается, что система тестирования прослужит в течение всего срока реализации программы выпуска изделий. Правильно спроектированные системы тестирования помогают гарантировать высокое качество и максимальную пропускную способность.

 

Читайте бесплатно
№ 4 Декабрь 2021
КИПиС 2021 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
29.11.1803
Родился австрийский физик
Кристиан Доплер
29.11.1849
Родился английский ученый, изобретатель первой электронной лампы
Джон Амброз Флеминг
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.