EN
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(574)
Новости Anritsu(121)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(666)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(96)
Новости Rohde & Schwarz(558)
Новости Tektronix(225)
Новости Texas Instruments(23)
Новости Yokogawa(132)
Новости Росстандарта(154)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Информация
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель

Малай И.М.



Статьи этого автора


Аппаратурная реализация измерений эффективности экранирования помещений

Номер журнала: КИПиС 2009 № 5

В настоящее время все более актуальной становится задача настройки и испытаний радиотехнических и радиоэлектронных средств, а также проведение испытаний технических средств (ТС) на электромагнитную совместимость (ЭМС) в условиях, при которых исключается или ослабляется до допустимого уровня влияние внешних электромагнитных полей на результаты измерений параметров испытываемого средства. При измерениях эффективности экранирования возникает проблема выбора измерительной аппаратуры, которая бы обеспечивала решение этой измерительной задачи для каждого из трех классов экранированных камер в зависимости от значений эффективности экранирования.

 

Читайте бесплатно
№ 4 Декабрь 2021
КИПиС 2021 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
12.12.1927
Родился американский инженер, один из изобретателей интегральной схемы (1959), один из основателей Fairchild Semiconductor (1957), основатель, совместно с Гордоном Муром, корпорации Intel (1968)
Роберт Нортон Нойс
12.12.1843
День рождения
Марсель Депре
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.