EN
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(574)
Новости Anritsu(121)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(666)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(96)
Новости Rohde & Schwarz(558)
Новости Tektronix(225)
Новости Texas Instruments(23)
Новости Yokogawa(132)
Новости Росстандарта(154)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Информация
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель

Джей-йон Чен (Jae-yong Chang)

Компания Agilent Technologies

Статьи этого автора


Осциллограф стандарта LXI повышает эффективность систем автоматического тестирования

Номер журнала: КИПиС 2006 № 6

В последние годы появился новый класс приборов для построения систем автоматического тестирования (Automatic Test Equipment, ATE). Он основан на технологии LAN (Ethernet). Стандарт LXI (LAN eXtensions for Instrumentation) представляет собой спецификацию на базе хорошо себя зарекомендовавших и широко распространенных стандартов для создания и настройки быстрых, эффективных и экономичных систем ATE. В этой статье рассказывается о том, какие преимущества дает использование в системах ATE осциллографов на базе стандарта LXI.

 

Читайте бесплатно
№ 4 Декабрь 2021
КИПиС 2021 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
26.02.1786
День рождения
Доминик Франсуа  Араго
26.02.1911
День рождения ученого, исследовавшего поляризацию вакуума
Мигдал Аркадий Бейнусович
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.