EN
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(574)
Новости Anritsu(121)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(666)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(96)
Новости Rohde & Schwarz(558)
Новости Tektronix(225)
Новости Texas Instruments(23)
Новости Yokogawa(132)
Новости Росстандарта(154)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Информация
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель

Ли Морган (Lee Morgan)


Статьи этого автора


Выявление взаимосвязи между джиттером и шумом схемы питания
Выявление взаимосвязи между джиттером и шумом схемы питания

Номер журнала: КИПиС 2020 № 5

Лучшей отправной точкой для выяснения исходной причины появления битовых ошибок является анализ джиттера, но в некоторых случаях добраться до первопричины может помочь анализ сигналов схемы питания. Статья Ли Моргана (Компания Tektronix) «Выявление взаимосвязи между джиттером и шумом схемы питания» поможет Вам разобраться в битовых ошибках, рассмотрев эти два явления как во временной, так и в частотной областях.

 
Новый подход к частотному анализу в осциллографах
Новый подход к частотному анализу в осциллографах

Номер журнала: КИПиС 2019 № 5

Настоящая статья рассказывает о существенных усовершенствованиях архитектуры осциллографов, которые стали возможными благодаря новому микропрограммному обеспечению

 

Поделиться:
Читайте бесплатно
№ 4 Декабрь 2021
КИПиС 2021 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
26.06.1895
День рождения ученого, получившего Нобелевскую премию по физике
Тамм Игорь Евгеньевич
26.06.1894
День рождения ученого, открывшего сверхтекучесть
Капица Петр Леонидович
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.