English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(550)
Новости Anritsu(117)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(637)
Новости Metrel(22)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(90)
Новости Rohde & Schwarz(531)
Новости Tektronix(217)
Новости Texas Instruments(21)
Новости Yokogawa(116)
Новости Росстандарта(143)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

Сураб Даз


Книги этого автора



Статьи этого автора


Теория и практика тестирования и отладки устройств USB 2.0

Номер журнала: КИПиС 2020 № 6

USB 2.0 продолжает оставаться одной из самых широко распространенных системных шин, используемых в разнообразных приложениях благодаря своей надежности, простоте использования и экономической эффективности. Несмотря на то, что это не самая быстрая версия USB со скоростью передачи данных до 480 Мбит/с, она применяется для решения огромного количества задач...

 

Свежий номер
№ 6 Декабрь 2020
КИПиС 2020 № 6
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
04.03.1822
День рождения математика, в честь которого названы Фигуры Лиссажу