EN
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(574)
Новости Anritsu(121)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(666)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(96)
Новости Rohde & Schwarz(558)
Новости Tektronix(225)
Новости Texas Instruments(23)
Новости Yokogawa(132)
Новости Росстандарта(154)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Информация
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель

Определение типа проводимости полупроводников

Об Энциклопедии измерений
Поиск:  

Как известно, полупроводники могут быть двух типов:
  • с дырочной проводимостью или p-типа;
  • с электронной проводимостью или n-типа.

В связи с этим часто возникает необходимость экспериментального определения типа полупроводника. Она может решаться параллельно с определением удельных сопротивлений с использованием четырехточечной измерительной схемы. При этом известны два основных способа определения типа проводимости:

  • метод выпрямления (Rectification Method)
  • метод термо-ЭДС (Thermoelectric Voltage Method).

Для реализации первого метода используется измерительная схема, показанная на рис. 1

Рис. 1 Реализация метода выпрямления

При полупроводнике p-типа у осциллограммы контрольной точки (рис. 2) отчетливо видна несимметричность осциллограммы – положительная полуволна явно имеет большую амплитуду, чем отрицательное и среднее напряжение в контрольной точке положительно. При полупроводнике n-типа преобладает отрицательная полуволна и напряжение в контрольной точке отрицательно.

Рис. 2 Осциллограммы контрольного сигнала

Второй метод реализуется измерительной схемой, показанной на рис. 3 Определение типа проводимости аналогично описанному и выполняется по показаниям вольтметра. Этот метод предпочтителен при испытании низкоомных полупроводников, когда метод выпрямления работает плохо из-за низкого уровня напряжения в контрольной точке.

Рис. 3 Реализация метода термо-ЭДС

Источник

А. А. Афонский, В. П. Дьяконов, Электронные измерения в нанотехнологиях и в микроэлектронике

Под ред. проф. В. П. Дьяконова, Москва, ДМК пресс, 2011


Возврат к списку


Материалы по теме:

Поделиться:
Читайте бесплатно
№ 4 Декабрь 2021
КИПиС 2021 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
15.07.1904
День рождения одного из первых отечественных лауреатов Нобелевской премии
Черенков Павел Алексеевич
Конвертер единиц измерения
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.