ВНИИОФИ и Национальный институт метрологии Китая (NIM) провели метрологические сличения

28.03.2015

В январе 2015 года начальник лаборатории ВНИИОФИ Борис Хлевной совместно со специалистами оптического отделения Национального метрологического института Китая (NIM) провел двусторонние сличения шкал спектральной плотности энергетической освещенности (СПЭО), а также принял участие в исследованиях высокотемпературного черного тела на реперной точке WC-C (3021 К).

Результаты сличений показали хорошее совпадение шкал СПЭО двух институтов в спектральном диапазоне (250 – 2500) нм. Исследования черного тела WC-C продемонстрировали высокую воспроизводимость этой реперной точки и ее перспективность для радиометрии.

Были проведены также сличения реперных ячеек WC-C, изготовленных во ВНИИОФИ и NIM, показавшие совпадение температуры плавления ячеек в пределах 60 мК.

Б. Хлевной выступил с сообщением о состоянии радиометрии во ВНИИОФИ. Китайская сторона выразила заинтересованность в углублении контактов и пригласила директора ВНИИОФИ Владимира Крутикова посетить NIM с визитом для обсуждения и согласования Программы совместных работ.

Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии (РОССТАНДАРТ)

О компании: Росстандарт