EN
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(574)
Новости Anritsu(121)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(666)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(96)
Новости Rohde & Schwarz(558)
Новости Tektronix(225)
Новости Texas Instruments(23)
Новости Yokogawa(132)
Новости Росстандарта(154)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Информация
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель

Система для автоматического тестирования электронных устройств AX518

Система для автоматического тестирования электронных устройств AX518

29.06.2013

Система предназначена для тестирования полупроводниковых микросхем, процессоров, ЦАП, АЦП, устройств в системе радио-идентификации, устройств поддерживающих технологии широкополосного вещания и беспроводных сетей, приемопередатчиков.

Имеется возможность для проведения измерений, как в частотной, так и во временной области, спектрального анализа, измерения RF мощностей, потерь, и шумов.

Система для автоматического тестирования электронных устройств AX518 состоит из 5-слотового шасси стандарта AXIe и 18-слотового шасси стандарта PXI.

В состав AXIe шасси входят системный модуль, 2 модуля DPS12(24 канала обеспечения питания или измерения напряжения и тока.), 2 модуля DD48 (96 цифровых каналов обеспечивают проведение тестирования со скоростями до 400 Мб/с).

В состав PXI входят генератор векторно-модулированных сигналов (50МГц-6ГГц), синтезаторы частот с высоко стабильным выходом для синхронизации, 4 высокочастотных двунаправленных порта c 2-мя выходами , мультиплексор и дигитайзер.(инструменты PXI шасси обеспечивают возможности AXRF-6G RF subsystem).

Система дополняется компьютером и программным обеспечением.

В состав программного обеспечения входят стандартные библиотеки и специфические программы для тестирования определенных устройств.

Холдинг Информтест



Возврат к списку

Читайте бесплатно
№ 4 Декабрь 2021
КИПиС 2021 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
10.10.1908
День рождения ученого, давшего объяснение эффекту "свечения" электронов
Франк Илья Михайлович
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.