|
EN |
Поиск по сайту
Авторизация
Подписка на новости
|
Система для автоматического тестирования электронных устройств AX51829.06.2013 Система предназначена для тестирования полупроводниковых микросхем, процессоров, ЦАП, АЦП, устройств в системе радио-идентификации, устройств поддерживающих технологии широкополосного вещания и беспроводных сетей, приемопередатчиков. Имеется возможность для проведения измерений, как в частотной, так и во временной области, спектрального анализа, измерения RF мощностей, потерь, и шумов. Система для автоматического тестирования электронных устройств AX518 состоит из 5-слотового шасси стандарта AXIe и 18-слотового шасси стандарта PXI. В состав AXIe шасси входят системный модуль, 2 модуля DPS12(24 канала обеспечения питания или измерения напряжения и тока.), 2 модуля DD48 (96 цифровых каналов обеспечивают проведение тестирования со скоростями до 400 Мб/с). В состав PXI входят генератор векторно-модулированных сигналов (50МГц-6ГГц), синтезаторы частот с высоко стабильным выходом для синхронизации, 4 высокочастотных двунаправленных порта c 2-мя выходами , мультиплексор и дигитайзер.(инструменты PXI шасси обеспечивают возможности AXRF-6G RF subsystem). Система дополняется компьютером и программным обеспечением. В состав программного обеспечения входят стандартные библиотеки и специфические программы для тестирования определенных устройств. |
Читайте бесплатно
События из истории измерений
10.10.1908
День рождения ученого, давшего объяснение эффекту "свечения" электронов
|