English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(553)
Новости Anritsu(117)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(642)
Новости Metrel(22)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(93)
Новости Rohde & Schwarz(537)
Новости Tektronix(218)
Новости Texas Instruments(21)
Новости Yokogawa(117)
Новости Росстандарта(146)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

В Россию за эталоном

В Россию за эталоном

18.10.2015

В начале октября 2015 года ВНИИОФИ посетила делегация Национального метрологического института Китая во главе с генеральным директором Фанг Ксиангом. В рамках визита китайская делегация встретилась с заместителем руководителя Росстандарта Сергеем Голубевым и ознакомилась с эталонной базой института в области оптико-физических измерений.

Также были намечены планы совместных работ по сличению эталонов и метрологическому обеспечению оптико-физических измерений России и Китая.

Китайской стороной подтверждена заинтересованность в поставках в Китай разработанного во ВНИИОФИ оборудования. Также была выражена взаимная заинтересованность в развитии сотрудничества между нашими странами в других видах измерений.

Источник: www.gost.ru


О компании:  Росстандарт

Возврат к списку

Свежий номер
№ 1 Март 2021
КИПиС 2021 № 1
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений