English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(553)
Новости Anritsu(117)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(642)
Новости Metrel(22)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(93)
Новости Rohde & Schwarz(537)
Новости Tektronix(218)
Новости Texas Instruments(21)
Новости Yokogawa(117)
Новости Росстандарта(146)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Новое направление систем для тестирования микросхем от Холдинг Информтест

Новое направление систем для тестирования микросхем от Холдинг Информтест

15.12.2020

Холдинг Информтест представляет новое направление систем для тестирования микросхем разного типа, включая СБИС и процессоры с количеством выводов до 1408, смонтированных ячеек нового поколения (с частотами работы до 250 МГц), микросборок и кристаллов интегральных схем на пластинах.

Система MST14 разработана в открытом стандарте AXIe-1, что позволяет легко конфигурировать ее под различные задачи, используя широкий набор модульных приборов в стандарте AXIe-1. Кроме модульных приборов в стандарте AXIe-1, в состав системы могут быть интегрированы модульные приборы в стандарте PXIe, установленные на носители NMPXIe-AXIe. MST-14 является первой российской системой подобного назначения, выполненной в стандарте AXIe-1.

Ключевые особенности:

  • высокое число измерительных каналов высокой частоты и каналов постоянного тока;
  • управление по PCI Express Gen2 и Ethernet;
  • автоматический прижимной механизм с сервоприводом и электронным управлением;
  • воздушно принудительная система охлаждения направленного действия;
  • опциональное конфигурирование аналоговыми и СВЧ модулями;
  • возможность установки на манипулятор с подключением к автоматическим зондовым станциям, климатическим камерам или станциям автоматической подачи и разбраковки микросхем;
  • возможность проведения испытаний объекта на климатические воздействия повышенных и пониженных температур.

Источник: Холдинг Информтест
www.informtest.ru



Возврат к списку

Свежий номер
№ 1 Март 2021
КИПиС 2021 № 1
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений