English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(567)
Новости Anritsu(119)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(654)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(95)
Новости Rohde & Schwarz(549)
Новости Tektronix(222)
Новости Texas Instruments(22)
Новости Yokogawa(126)
Новости Росстандарта(150)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

Новое решение для проверки микросхем и узлов от Холдинг "Информтест"

Новое решение для проверки микросхем и узлов от Холдинг "Информтест"

17.08.2021

Холдинг "Информтест" представляет новое решение для измерения микросхем, кристаллов интегральных схем на пластинах и узлов функциональных блоков на 128 каналов до 250 МГц.

Ниже представлены ключевые характеристики шасси:

  • Форм-фактор: AXIe-1
  • Интерфейс: PCIe Gen 3.0
  • Количество слотов для размещения инструментальных модулей: 1
  • Предельно допустимая мощность инструментального модуля: 400 Вт
  • Максимальная пропускная способность: 64 Гб/с

Ключевые характеристики модуля: P128C200M(C)

  • Вариант исполнения модуля: под шлейф
  • Количество цифровых каналов: 128
  • Частота функционального контроля: 15 КГц – 250 МГц
  • Объем памяти векторов/ошибок на канал: 128М/128М (либо – 256М/2К)
  • Объем памяти векторов ошибок в режиме сканирования: 4 G
  • Рассинхронизация (OTA): не более ±300 пс
  • Диапазон уровней сигналов: −1,5…+6,5 В
  • Активная нагрузка: программируемая ±20 мА
  • PPMU: ДА (на каждый канал)

Подробнее.

По материалам: Холдинг "Информтест"
www.informtest.ru




Возврат к списку

Свежий номер
№ 3 Сентябрь 2021
КИПиС 2021 № 3
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
22.10.1905
День рождения
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.