English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(553)
Новости Anritsu(117)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(646)
Новости Metrel(22)
Новости National Instruments(264)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(93)
Новости Rohde & Schwarz(539)
Новости Tektronix(218)
Новости Texas Instruments(21)
Новости Yokogawa(119)
Новости Росстандарта(148)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

Control & Diagnostic 2015

Control & Diagnostic 2015

12.01.2015

4-ая выставка промышленного оборудования и приборов для технической диагностики и экспертизы. Выставка пройдёт с 19 по 21 мая (ВДНХ, 69 павильон) в рамках 11-го Московского международного инновационного форума и выставки «Точные измерения - основа качества и безопасности».

Тематика выставки:

  • Приборы для технической диагностики и неразрушающего контроля
  • Контрольно-измерительные приборы и автоматизированные системы
  • Датчики и сенсоры
  • Мобильные лаборатории
  • Экспертиза и диагностическое обследование производственных объектов
  • Оборудование и приборы экологического контроля
  • Метрологическое обеспечение средств и методов НК
  • IT-технологии сбора, передачи, анализа контрольных данных

Приглашаемые специалисты:

  • Руководители лабораторий неразрушающего контроля и диагностики
  • Дефектоскописты
  • Специалисты по неразрущающему контролю
  • Эксперты по промышленной безопасности
  • Инженеры технического надзора
  • Специалисты контроля качества продукции и безопасности технологических процессовИнженеры по сварке и контролю швов
  • Контролеры на транспорте и путей сообщения
  • Диагносты магистральных и технологических трубопроводов

Получить пригласительный билет можно по данной ссылке.

Сайт выставки.


Дата открытия:  19.05.2015
Дата закрытия:  21.05.2015
Место проведения:  Москва, ВДНХ, 69 павильон
Организаторы:  Компания "Вэстстрой Экспо"

Возврат к списку

Свежий номер
№ 1 Март 2021
КИПиС 2021 № 1
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
15.05.1859
Родился французский учёный, физик, один из первых исследователей радиоактивности
Выставки
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.