EN
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(574)
Новости Anritsu(121)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(666)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(96)
Новости Rohde & Schwarz(558)
Новости Tektronix(225)
Новости Texas Instruments(23)
Новости Yokogawa(132)
Новости Росстандарта(154)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Информация
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель

Международная Выставка Измерений и Технологий "Микротехнологии"

Международная Выставка Измерений и Технологий "Микротехнологии"

10.06.2009

Сегодня трудно назвать область человеческой деятельности, где современные микротехнологии не являлись бы критически важными, и тематика выставки отражает инновационное развитие всего реального сектора отечественной экономики. В прошлом году в экспозиции был представлен широкий спектр разработок в этой области. Неограниченные возможности для общения специалистов предоставит деловая программа выставки «Микротехнологии», включающая разнообразные семинары, круглые столы, конференцию. Выставка – это не только смотр достижений отрасли, но и рабочая площадка, где происходит обмен опытом, обсуждаются проблемы и возможности сотрудничества. В рамках Международной Выставки Измерительного Оборудования и Технологий 14-15 октября пройдет специализированная конференция "Инновации, Промышленность, Финансы" состоящая из трех разделов: контрольно-измерительное оборудование, датчики и измерения, нанотехнологии. Тематика выставки: МИКРОСИСТЕМНАЯ ТЕХНОЛОГИЯ, ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ УСТРОЙСТВА, ВСТРОЕННЫЕ СИСТЕМЫ, ДАТЧИКИ И МИКРОСИСТЕМЫ, ОБОРУДОВАНИЕ И ПРОГРАММНОЕ ОБЕСПЕЧЕНИЕ - ТЕСТИРОВАНИЕ ИЗМЕРЕНИЙ, НАНОМАТЕРИАЛЫ И НАНОТЕХНОЛОГИИ


Дата открытия:  14.10.2009
Дата закрытия:  16.10.2009
Место проведения:  Москва. ЦВК "Экспоцентр", павильон №5
Организаторы:  ООО "Фор-Экспо"  / "Novex Ltd."

Возврат к списку

Поделиться:
Читайте бесплатно
№ 4 Декабрь 2021
КИПиС 2021 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
17.02.1888
Родился немецкий физик, лауреат Нобелевской премии по физике за 1943 год
Отто Штерн
Выставки
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.