English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(553)
Новости Anritsu(117)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(647)
Новости Metrel(22)
Новости National Instruments(264)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(93)
Новости Rohde & Schwarz(540)
Новости Tektronix(218)
Новости Texas Instruments(21)
Новости Yokogawa(119)
Новости Росстандарта(148)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

Metromeet 2010

Metromeet 2010

15.02.2010

6-я Международная конференция по промышленной метрологии METROMEET пройдет с 25 по 26 февраля в городе Бильбао, Испания. На конференции будет представлена информация о новейших технологиях и разработках в секторе промышленной метрологии. Здесь можно познакомиться с новейшими методиками и формулами для повышения качества производственного процесса и его эффективности.  

Среди тем конференции:

  • метрологическое программное обеспечение;
  • нанометрология;
  • промышленная метрология;  
  • калибровка и поверка.
  • и многое другое


Подробнее о конференции: www.metromeet.org  


Дата открытия:  25.02.2010
Дата закрытия:  26.02.2010
Место проведения:  г.Бильбао, Испания

Возврат к списку

Свежий номер
№ 1 Март 2021
КИПиС 2021 № 1
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
Выставки
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.